特許
J-GLOBAL ID：200903070012765235

光周波数変調方式距離計

発明者：
石岡 昌人

石岡 昌人 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-188006
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005614
出願日： 2000年06月22日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：
【要約】【課題】FSF光源構成の簡素化による低コスト化と、従来のマルチモード発振に起因する感度の劣化を防止し得る光周波数変調方式距離計を提供する。【解決手段】半導体レーザ20の後方端面28及びモードセレクター素子27によりレーザ共振器を構成する。半導体レーザ20からの光出力はレンズ26を介し音響光学素子23に導かれ、AOM用変調信号源22からf0 の信号印加により音響光学素子23中に超音波30が励起する。音響光学素子23では、ブラッグ回折現象が生じ0次光25と1次回折光24に分離し、1次回折光24はドップラー周波数シフトにより光周波数がf0 だけずれて出力される。1次回折光24は、モードセレクター素子27により任意の一つの発振モード成分だけを反射するファブリペロー共振器条件を有しており、その反射により音響光学素子23に入力してドップラー周波数シフトを受けて半導体レーザ20へ帰還する。
請求項（抜粋）：
所要の周期で光周波数が時間と共に変化する光周波数変調信号を出力する周波数シフト帰還共振器型半導体レーザと、この半導体レーザから出力された光周波数変調信号が光分配器により参照光と測定光とに二分され、そのうちの測定光は被測定対象により照射・反射し再び参照光と干渉する光学系と、この光学系の干渉により生じる参照光と測定光との光路差固有のビート信号を検出し電気信号に変換する光検出器と、この光検出器により検出されたビート信号の周波数成分を計測する周波数分析装置と、この周波数分析装置により求められる周波数値と測定パラメータから最終的に距離を算出する電子計算機とを具備したことを特徴とする光周波数変調方式距離計。
IPC (5件)：
G01B 9/02 ,  G01B 11/02 ,  G02F 1/11 502 ,  H01S 5/12 ,  H01S 5/14
FI (5件)：
G01B 9/02 ,  G01B 11/02 G ,  G02F 1/11 502 ,  H01S 5/12 ,  H01S 5/14
Fターム (42件)：
2F064AA01 ,  2F064BB05 ,  2F064CC01 ,  2F064FF01 ,  2F064GG00 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG22 ,  2F064GG51 ,  2F064GG70 ,  2F064HH01 ,  2F064HH05 ,  2F064JJ04 ,  2F064JJ05 ,  2F064KK01 ,  2F065AA02 ,  2F065AA06 ,  2F065BB25 ,  2F065CC21 ,  2F065DD04 ,  2F065FF51 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL02 ,  2F065LL12 ,  2F065LL46 ,  2F065LL57 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ44 ,  2H079AA04 ,  2H079BA05 ,  2H079CA11 ,  2H079KA11 ,  2H079KA20 ,  5F073AA64 ,  5F073AA65 ,  5F073AA67 ,  5F073AA83 ,  5F073AB21 ,  5F073AB28 ,  5F073BA09 ,  5F073EA29
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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