特許
J-GLOBAL ID：200903070015513717

コンデンサの電極抵抗および誘電体の損失の測定方法

発明者：
中祖 一朗

中祖 一朗 について


出願人/特許権者：
株式会社村田製作所

株式会社村田製作所 について


代理人 (1件)： 岡田 全啓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-136606
公開番号（公開出願番号）：特開2003-329715
出願日： 2002年05月13日
公開日（公表日）： 2003年11月19日
要約：
【要約】【課題】 コンデンサの電極部分における抵抗と誘電体部分における損失とを分離して把握することができ、コンデンサの設計や選別に応用することができる、コンデンサの電極抵抗および誘電体の損失の測定方法を得る。【解決手段】 異なる周波数でコンデンサの等価直列抵抗および静電容量を測定する。これらの測定値を用いて計算することにより、コンデンサの電極部分の抵抗と誘電体の損失とを分離して把握する。異なる周波数でコンデンサの等価直列抵抗とコンデンサ損失とを測定しても、電極抵抗と誘電体の損失とを分離して算出することができる。
請求項（抜粋）：
コンデンサに所定の周波数f1 の交流信号を印加し、周波数f1 における静電容量C1 および、等価直列抵抗ESR1 またはコンデンサ損失DF1 を測定する工程と、コンデンサに前記周波数f1 に近接する周波数f2 の交流信号を印加し、周波数f2 における静電容量C2 および、等価直列抵抗ESR2 またはコンデンサ損失DF2 を測定する工程と、前記周波数f1 における電極抵抗と前記周波数f2 における電極抵抗が等しく、かつ前記周波数f1 における誘電体の損失と前記周波数f2 における誘電体の損失が等しいとすることにより、静電容量C1 、C2 およびコンデンサ損失DF1 、DF2 から、コンデンサの電極抵抗および誘電体の損失を算出する工程とを有することを特徴とする、コンデンサの電極抵抗および誘電体の損失の測定方法。
IPC (3件)：
G01R 27/02 ,  G01R 27/26 ,  H01G 13/00 361
FI (3件)：
G01R 27/02 R ,  G01R 27/26 T ,  H01G 13/00 361 A
Fターム (13件)：
2G028BB06 ,  2G028CG02 ,  2G028CG10 ,  2G028DH05 ,  2G028DH11 ,  2G028HN09 ,  2G028JP03 ,  5E082BB07 ,  5E082EE05 ,  5E082MM32 ,  5E082MM35 ,  5E082MM36 ,  5E082MM40
引用特許：
審査官引用 (8件)
  • 特開昭64-069963
  • 特開昭64-069963
  • 特開昭54-162579
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