特許
J-GLOBAL ID：200903070025001099
画像測定装置、画像測定方法、画像処理装置
出願人/特許権者：
代理人 (5件)： 宮川 貞二 , 東野 博文 , 宮川 清 , 松村 博之 , 高橋 和夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-351844
公開番号（公開出願番号）：特開2004-184240
出願日： 2002年12月03日
公開日（公表日）： 2004年07月02日
要約：
【課題】左右画像に対して空間領域での相関処理を用いてステレオマッチングによる対応点を求める場合、対応点中に誤対応点が含まれる可能性を矮小化して、信頼性の高い二次元又は三次元計測を可能とする画像測定装置を提供すること。【解決手段】画像形成部12により形成された捜索画像14において、探索データブロック設定部16より設定された基準データブロックと対応関係となる対応捜索画像領域20を求める捜索対応検出部19と、対応捜索画像領域20を用いて捜索画像14中に基準データブロック17に相当する逆対応データブロック22を設定し、基準画像13において逆対応データブロック22と対応関係となる逆対応基準画像領域23を求め、基準画像13において逆対応基準画像領域23と基準データブロック17とが一致するか判定する逆対応判別部21とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
一対のステレオ画像に関して第1解像度の第1基準画像と第1捜索画像を形成すると共に、前記第1解像度より高い第2解像度の第2基準画像と第2捜索画像を形成する画像形成部と;
前記第1基準画像に第1基準データブロックを設定し、前記第2基準画像に、前記第2解像度に対応する画素データを有する第2基準データブロックを設定すると共に、前記第2捜索画像に、前記第2解像度に対応する画素データを有する第2捜索データブロックを設定する探索データブロック設定部と;
前記第1捜索画像中において前記第1基準データブロックと対応関係となる第1対応捜索画像領域を求め、前記第2捜索画像中の前記第2捜索データブロックにおいて、前記第2基準データブロックと対応関係となる第2対応捜索画像領域を求める捜索対応検出部と;
前記第2対応捜索画像領域を用いて前記第2捜索画像中に前記第2基準データブロックに相当する逆対応データブロックを設定し、前記第2基準画像において前記逆対応データブロックと対応関係となる逆対応基準画像領域を求め、前記第2基準画像において前記逆対応基準画像領域と前記第2基準データブロックとが一致するか判定する逆対応判別部と;
を備え、前記逆対応判別部により前記逆対応基準画像領域と前記第2基準データブロックとが一致すると判定された第2対応捜索画像領域を用いて、前記第2基準画像と前記第2捜索画像との位置関係を求め、求められた位置関係を利用して前記一対のステレオ画像に撮影された対象物の測定を行なうように構成された画像測定装置。
IPC (4件)：
FI (4件)：
Fターム (31件)：
2F065AA04
, 2F065AA12
, 2F065AA53
, 2F065AA54
, 2F065BB27
, 2F065CC19
, 2F065CC25
, 2F065DD00
, 2F065DD06
, 2F065FF05
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065QQ32
, 2F065QQ38
, 2F065QQ42
, 5B057AA20
, 5B057CA12
, 5B057CB13
, 5B057CD14
, 5B057CH01
, 5B057CH11
, 5B057DA07
, 5B057DB02
, 5B057DC16
, 5B057DC33
, 5L096BA20
, 5L096CA05
, 5L096DA02
, 5L096FA69
, 5L096HA07
, 5L096LA05
引用特許：
審査官引用 (4件)
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画像測定装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願平9-147064 出願人：株式会社トプコン -
画像測定装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願平9-147066 出願人：株式会社トプコン -
ステレオ対応探索装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願平5-247172 出願人：シャープ株式会社
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