特許

J-GLOBAL ID：200903070186380570

非接触型変位量測定装置

発明者： 中沢 静夫 ,  小泉 裕 ,  原田 広史 ,  市村 正治 ,  中安 則次 ,  坂口 嘉成
出願人/特許権者： 科学技術庁金属材料技術研究所長 ,  東伸工業株式会社 ,  安川商事株式会社
代理人 (1件)： 西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-078011
公開番号（公開出願番号）：特開平8-278109
出願日： 1995年04月03日
公開日（公表日）： 1996年10月22日
要約：

【要約】【構成】 試験片の平行部の標点間の二ケ所に基準部を作り、この部分を二台のCCDカメラで観察し、テンプレートマッチングにより、三角形の画像(基準部)をそれぞれ記憶させて、以後その画像の部分を常に探し出し、画像の働きを検知し、これによって伸びを測定する。【効果】 今まで変位の測定が不可能であった1000°C以上の高温域においても正確な変位の測定が可能であり、試験片にも特殊な加工が不要なので、今後応用範囲を広げて使われる可能性がある。さらに、特殊な測定用検出部を作る必要が無く、試験片の製作費が抑えられる。また、金属製の伸び取り出し金具の変形、消耗が無いので測定の維持費用も軽減できる。

請求項（抜粋）：

標点部を持つ試験片を固定するつかみ具、さらに標点部を観察する少くとも2台の撮像装置と画像処理装置とを有し、撮像装置によって標点の位置ズレを抽出し、テンプレートマッチングによりそのズレ量より変位を求め、非接触で試験片標点部間の変位を測定することを特徴とする非接触型変位量測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/16 ,  G06T 7/00

FI (4件)：

G01B 11/00 F ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/16 H ,  G06F 15/62 400

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 変位計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-190983   出願人：株式会社島津製作所
• 位置認識方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-215345   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開平4-361104
  
• 特開平3-167407