特許
J-GLOBAL ID:200903070308073703
粉体評価システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
根本 進
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-323894
公開番号(公開出願番号):特開2003-130785
出願日: 2001年10月22日
公開日(公表日): 2003年05月08日
要約:
【要約】【課題】押出し造粒された柱状粒子のような非球形粒子の粒度だけでなく、形状を評価できる、取り扱い容易でコンパクトな低コストのシステムと方法を提供する。【解決手段】粉体を平坦面3a上で分散させる。その分散させた粉体を撮影することで画像データを生成する。その画像データから、粉体を構成する各粒子の2次元平面への投影画像の大きさを表す投影データを求める。その投影データと各粒子に共通の既知の寸法である形状パラメータとから、各粒子の形状特性を表す評価情報を求める。
請求項(抜粋):
粉体を平坦面上で分散させ、その分散させた粉体を撮影することで画像データを生成し、その画像データから、粉体を構成する各粒子の2次元平面への投影画像の大きさを表す投影データを求め、その投影データと各粒子に共通の既知の寸法である形状パラメータとから、各粒子の形状特性を表す評価情報を求めることを特徴とする粉体の評価方法。
IPC (4件):
G01N 15/02
, G01N 1/00 101
, G01N 1/02
, G01N 1/04
FI (4件):
G01N 15/02 B
, G01N 1/00 101 B
, G01N 1/02 N
, G01N 1/04 C
Fターム (8件):
2G052AD15
, 2G052AD35
, 2G052AD55
, 2G052BA04
, 2G052BA17
, 2G052CA04
, 2G052CA40
, 2G052GA11
引用特許:
出願人引用 (6件)
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粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-344973
出願人:日機装株式会社
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粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-185614
出願人:日機装株式会社
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粉粒体処理装置の粒子測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-171285
出願人:フロイント産業株式会社
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審査官引用 (6件)
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