特許
J-GLOBAL ID:200903070446043041
試料分析装置および方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-145036
公開番号(公開出願番号):特開2004-045396
出願日: 2003年05月22日
公開日(公表日): 2004年02月12日
要約:
【課題】試料の情報に対応する試料容器を容易に識別すること。【解決手段】試料を収容した容器に目印を付加するマーカーを備えるマーキング機構と、試料の情報に基づいてマーキング機構を作動させる制御部とを備える試料分析装置。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
試料を収容した容器に目印を付加するマーカーを備えるマーキング機構と、試料の情報に基づいてマーキング機構を作動させる制御部とを備える試料分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N35/02 C
, G01N35/00 A
Fターム (6件):
2G058AA09
, 2G058CB15
, 2G058FA02
, 2G058GC02
, 2G058GC05
, 2G058GD00
引用特許: