特許
J-GLOBAL ID:200903070446043041

試料分析装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-145036
公開番号(公開出願番号):特開2004-045396
出願日: 2003年05月22日
公開日(公表日): 2004年02月12日
要約:
【課題】試料の情報に対応する試料容器を容易に識別すること。【解決手段】試料を収容した容器に目印を付加するマーカーを備えるマーキング機構と、試料の情報に基づいてマーキング機構を作動させる制御部とを備える試料分析装置。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
試料を収容した容器に目印を付加するマーカーを備えるマーキング機構と、試料の情報に基づいてマーキング機構を作動させる制御部とを備える試料分析装置。
IPC (2件):
G01N35/02 ,  G01N35/00
FI (2件):
G01N35/02 C ,  G01N35/00 A
Fターム (6件):
2G058AA09 ,  2G058CB15 ,  2G058FA02 ,  2G058GC02 ,  2G058GC05 ,  2G058GD00
引用特許:
審査官引用 (4件)
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