測定チップ

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳田征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-092666
公開番号（公開出願番号）：特開2002-296172
出願日： 2001年03月28日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
要約：

【要約】【課題】表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップを、屈折率マッチング液を使用する必要がなく、そして測定用光学系に対して簡単に交換可能なものとする。【解決手段】誘電体ブロック11と、その一面に形成されて試料15に接触させられる金属膜12と、光ビーム30を発生させる光源31と、前記光ビーム30を誘電体ブロック11に対して、該誘電体ブロック11と金属膜12との界面11aで全反射条件となり、かつ、該界面11aで表面プラズモン共鳴条件を含む種々の入射角成分を含むように収束光状態で入射させる光学系32と、前記界面11aで全反射した光ビーム30の強度を測定する光検出手段40とを備えてなる表面プラズモン共鳴測定装置等に用いられる測定チップ10において、誘電体ブロック11を、光ビーム30の入射面11b、出射面11cおよび金属膜12が形成される一面の全てを含む1つのブロックとして形成し、この誘電体ブロック11に金属膜12を一体化させる。

請求項（抜粋）：

誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成されて試料に接触させられる薄膜層と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件となり、かつ、種々の入射角成分を含むようにして入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して全反射減衰の状態を検出する光検出手段とを備えてなる、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップであって、前記誘電体ブロックが、前記光ビームの入射面、出射面および前記薄膜層が形成される一面の全てを含む1つのブロックとして形成され、この誘電体ブロックに前記薄膜層が一体化されてなることを特徴とする測定チップ。

IPC (4件)：

G01N 21/03 , G01N 21/27 , G01N 35/04 , G01N 35/10

FI (4件)：

G01N 21/03 Z , G01N 21/27 C , G01N 35/04 A , G01N 35/06 A

Fターム (28件)：

2G057AB04 , 2G057AB09 , 2G057BA01 , 2G057BB10 , 2G057BC07 , 2G057BD10 , 2G057DA03 , 2G057DB01 , 2G057HA04 , 2G058AA01 , 2G058CA04 , 2G058CB04 , 2G058EA02 , 2G058EA11 , 2G058ED03 , 2G058GA02 , 2G059AA01 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059FF03 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059JJ11 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059PP01

引用特許：

審査官引用 (10件)

生体分子検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-173772 出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー
表面プラズモン共鳴センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-064016 出願人：東陶機器株式会社
特開平1-308946

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