特許
J-GLOBAL ID:200903070957801394

マイクロカプセルの製造における粒径の自動測定制御方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-075801
公開番号(公開出願番号):特開平8-266887
出願日: 1995年03月31日
公開日(公表日): 1996年10月15日
要約:
【要約】【目的】 マイクロカプセルの連続製造において目標とする粒径を再現よく安定に得られるようにする。【構成】 乳化機2後のプロセス配管1から乳化液あるいはマイクロカプセルをオンラインで自動的にサンプリングし、粒径測定機6に供給して粒径を自動測定し、その測定結果と目標粒径との差をプロセスコンピュータ10により計算し、あらかじめ入力されている乳化機回転数と平均粒径との関係に基づいて目標粒径になる乳化機回転数を求め、これに基づいて前記乳化機2の回転数を調整することによってマイクロカプセルの粒径を制御する。
請求項(抜粋):
乳化機を備えたマイクロカプセルの製造ラインにおいて、乳化機後のプロセス配管から乳化液あるいはマイクロカプセルをオンラインで自動的にサンプリングし、粒径測定機に供給して粒径を自動測定し、その測定結果と目標粒径との差をプロセスコンピュータにより計算し、あらかじめ入力されている乳化機回転数と平均粒径との関係に基づいて目標粒径になる乳化機回転数を求め、これに基づいて前記乳化機の回転数を調整することによってマイクロカプセルの粒径を制御することを特徴とするマイクロカプセルの製造における粒径の自動測定制御方法。
引用特許:
審査官引用 (7件)
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