特許

J-GLOBAL ID：200903071098408100

はんだ検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置

発明者： 鴛海 明
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-004228
公開番号（公開出願番号）：特開2003-207461
出願日： 2002年01月11日
公開日（公表日）： 2003年07月25日
要約：

【要約】【課題】 シルク印刷のパターンがはんだ付け部位として誤抽出されないようにして、検査領域を正確に設定する。【解決手段】 制御処理部5は、あらかじめ教示された検査領域の設定条件に基づき、被検査基板1T上の所定の領域の画像を生成し、前記検査領域に対応するはんだ付け部位を抽出する。このはんだ付け部位の抽出処理に先立ち、制御処理部5は、前記画像上で、明度が高く、かつ赤,緑,青の各色成分の変動がいずれも小さい画像領域を抽出し、この画像領域の色彩を黒色に変更する。

請求項（抜粋）：

異なる色彩光を発光する複数の光源を部品実装基板の基板面に対してそれぞれ異なる仰角の方向に配備し、各光源を点灯させた状態で前記基板からの反射光を撮像して得られた画像を用いて、前記基板上のはんだ付け部位の良否を判別する方法において、検査対象の基板を撮像して得られた画像に対し、各光源に対応する色成分の変化がいずれも画像上のはんだ付け部位において得られる色成分の変化よりも小さく、かつ前記画像上のはんだ付け部位に対する明度の差が所定値以内にある画像領域を抽出し、この画像領域内の明度が前記所定値を上回る差をもって前記画像上のはんだ付け部位の明度よりも低くなるように、前記画像領域内の色成分の大きさを変更する画像調整処理を実行するステップと、前記画像調整処理後の画像において、前記各色成分および明度の大きさに基づき、はんだ付け部位を抽出するステップと、前記抽出されたはんだ付け部位に対応する検査領域を設定して、その検査領域内の色彩の分布状態に基づき、前記はんだ付け部位の良否を判別するステップとを、実行することを特徴とするはんだ検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/956 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00 305 ,  H05K 3/34 512

FI (4件)：

G01N 21/956 B ,  G06T 1/00 305 A ,  H05K 3/34 512 B ,  G01B 11/24 A

Fターム (43件)：

2F065AA03 ,  2F065AA21 ,  2F065AA52 ,  2F065CC01 ,  2F065CC28 ,  2F065FF04 ,  2F065GG17 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR06 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA01 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DC25 ,  5B057DC36 ,  5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD53 ,  5E319GG09 ,  5E319GG15

引用特許：

出願人引用 (5件)

• 装着後部品位置検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-272745   出願人：松下電器産業株式会社
• 基板の観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-076687   出願人：松下電器産業株式会社
• 実装部品検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-067600   出願人：オムロン株式会社
• 特公平6-001173
  
• 実装基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-080886   出願人：オムロン株式会社