特許
J-GLOBAL ID:200903071203438095

記憶素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 角田 芳末 ,  磯山 弘信
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-214603
公開番号(公開出願番号):特開2006-040946
出願日: 2004年07月22日
公開日(公表日): 2006年02月09日
要約:
【課題】 容易にかつ高密度に製造することが可能となる構成の記憶素子を提供する。【解決手段】 2つの電極1,4の間に記録層2,3を有して成り、これら2つの電極1,4に極性の異なる電位を印加することにより、可逆的に記録層2,3の抵抗値が変化する抵抗変化素子10によりメモリセルが構成され、隣接する複数のメモリセルにおいて、抵抗変化素子10の記録層を構成する少なくとも一部の層2,3が同一層により共通に形成されている記憶素子を構成する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
2つの電極の間に記録層を有して成り、前記2つの電極に極性の異なる電位を印加することにより、可逆的に前記記録層の抵抗値が変化する抵抗変化素子により、それぞれのメモリセルが構成され、 隣接する複数の前記メモリセルにおいて、前記抵抗変化素子の前記記録層を構成する少なくとも一部の層が同一層により共通に形成されている ことを特徴とする記憶素子。
IPC (1件):
H01L 27/10
FI (1件):
H01L27/10 451
Fターム (12件):
5F083FZ10 ,  5F083GA27 ,  5F083JA35 ,  5F083JA37 ,  5F083JA38 ,  5F083JA39 ,  5F083JA40 ,  5F083JA60 ,  5F083LA21 ,  5F083MA06 ,  5F083MA19 ,  5F083PR40
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

前のページに戻る