特許
J-GLOBAL ID：200903071629729356
測定反応過程の異常の有無判定方法,該方法を実行可能な自動分析装置及び該方法のプログラムを記憶した記憶媒体
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
作田 康夫
, 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-202589
公開番号（公開出願番号）：特開2006-023214
出願日： 2004年07月09日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】 本発明は反応過程における測定値を利用して、検査が適切に行われたか否かを判定する手段を提供し、1日に数千から数万テストが計測される中においても異常反応をしめす項目の見落しを防止することを目的とする。【解決手段】 反応過程における光度計の値を計測し、反応過程データから分析測定結果を検証するものである。また正常な反応過程データに関するデータベース33を備え、測定された時系列の反応過程データ34を予め設定されたデータベース内情との照合することによって、所定の区分毎に或いは装置の進行プロセスに合致した区分毎に逐次、正常データか否かを判定する反応過程評価部35を備えている。さらに反応過程に関するデータベースを構築するために当該自動分析装置(検査項目)で測定したデータと、分析条件が異なり、結果が一定の許容範囲内の(一致している)測定結果を取得する演算部を備える。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
測定が正常に終了した前記反応過程の時系列データから基準となるマハラノビス空間を作成するステップと、
前記反応過程を予め定めた複数の過程に分け、該複数の過程毎に区分して新たなマハラノビス空間を作成するステップと、
前記予め定めた複数の過程の終了時点で前記マハラノビス空間でのマハラノビスの距離を算出するステップと、
を含むことを特徴とする測定反応過程の異常の有無判定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G058CB04
, 2G058CD04
, 2G058FA02
, 2G058FB02
, 2G058GA02
, 2G058GD00
, 2G058GD02
, 2G058GD07
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (7件)
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