特許

J-GLOBAL ID：200903071762741172

断線修復用配線を有する薄膜トランジスタマトリクス及び断線・短絡修復方法

発明者： 真田 達行
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 柏谷 昭司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-081120
公開番号（公開出願番号）：特開平9-274199
出願日： 1996年04月03日
公開日（公表日）： 1997年10月21日
要約：

【要約】【課題】 断線修復用配線を有する薄膜トランジスタマトリクス及び断線・短絡修復方法に関し、断線修復が正常に行われたか否かの判定を、断線・短絡検査用判定用ソフトと同じソフトを用いて判定する。【解決手段】 各バスライン1を囲む周辺接続2の対向する辺に、バスライン1を1本おきに接続するとともに、この周辺接続2に抵抗4を介して断線修復用配線3を接続する。

請求項（抜粋）：

各バスラインを囲む周辺接続の対向する辺に、前記バスラインを1本おきに接続するとともに、前記周辺接続に抵抗を介して断線修復用配線を接続したことを特徴とする断線修復用配線を有する薄膜トランジスタマトリクス。

IPC (4件)：

G02F 1/136 500 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  H01L 29/786

FI (4件)：

G02F 1/136 500 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  H01L 29/78 612 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• TFT基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-131543   出願人：富士通株式会社
• アクティブマトリクス基板およびその製法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-153621   出願人：三菱電機株式会社, 旭硝子株式会社
• 特開平3-098023
  
• 特開平3-098023