特許
J-GLOBAL ID:200903071785614224

半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 芝野 正雅
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-145138
公開番号(公開出願番号):特開2000-200833
出願日: 1999年05月25日
公開日(公表日): 2000年07月18日
要約:
【要約】【課題】 信頼性に優れ且つ微細化に適した半導体装置を提供すること。【解決手段】 シリコン酸化膜2の上に有機SOG膜3を形成し、有機SOG膜3に対し、ホウ素イオンを注入する。このように、有機SOG膜3にホウ素イオンを導入することで、膜中の有機成分を分解させると共に、膜中に含まれる水分及び水酸基を減少させる。そして、改質SOG膜4にダマシン法を用いて金属配線6を埋め込んだ後、その上に改質SOG膜8を形成し、更に、コンタクトホール9a,9bを形成する。コンタクトホール9a,9b内に接続孔配線10を埋め込んだ後、ダマシン法を用いて、改質SOG膜11及び上層金属配線12を形成する。
請求項(抜粋):
不純物が導入された第1の絶縁膜に第1の配線を埋め込み形成する工程と、前記第1の絶縁膜の上に第2の絶縁膜を形成する工程と、前記第2の絶縁膜に、前記第1の配線に通じるコンタクトホールを形成する工程と、少なくとも前記コンタクトホール内に、前記第1の配線に電気的に接続される第2の配線を形成する工程と、を含むことを特徴とした半導体装置の製造方法。
IPC (2件):
H01L 21/768 ,  H01L 21/316
FI (4件):
H01L 21/90 K ,  H01L 21/316 X ,  H01L 21/316 G ,  H01L 21/90 C
Fターム (95件):
5F033HH04 ,  5F033HH08 ,  5F033HH11 ,  5F033HH13 ,  5F033HH14 ,  5F033HH17 ,  5F033HH18 ,  5F033HH21 ,  5F033HH23 ,  5F033HH25 ,  5F033HH32 ,  5F033HH33 ,  5F033JJ04 ,  5F033JJ08 ,  5F033JJ11 ,  5F033JJ13 ,  5F033JJ14 ,  5F033JJ17 ,  5F033JJ18 ,  5F033JJ21 ,  5F033JJ23 ,  5F033JJ25 ,  5F033JJ32 ,  5F033JJ33 ,  5F033KK04 ,  5F033KK08 ,  5F033KK11 ,  5F033KK13 ,  5F033KK14 ,  5F033KK17 ,  5F033KK18 ,  5F033KK21 ,  5F033KK23 ,  5F033KK25 ,  5F033KK32 ,  5F033KK33 ,  5F033MM01 ,  5F033MM02 ,  5F033MM12 ,  5F033MM13 ,  5F033NN06 ,  5F033NN07 ,  5F033PP06 ,  5F033PP15 ,  5F033PP27 ,  5F033QQ09 ,  5F033QQ13 ,  5F033QQ14 ,  5F033QQ16 ,  5F033QQ23 ,  5F033QQ28 ,  5F033QQ37 ,  5F033QQ48 ,  5F033QQ60 ,  5F033QQ61 ,  5F033QQ62 ,  5F033QQ63 ,  5F033QQ64 ,  5F033QQ65 ,  5F033QQ66 ,  5F033QQ92 ,  5F033RR04 ,  5F033RR06 ,  5F033RR09 ,  5F033RR12 ,  5F033RR22 ,  5F033SS01 ,  5F033SS02 ,  5F033SS04 ,  5F033SS07 ,  5F033SS12 ,  5F033SS13 ,  5F033SS14 ,  5F033SS15 ,  5F033SS22 ,  5F033TT02 ,  5F033XX01 ,  5F033XX10 ,  5F033XX12 ,  5F058AD04 ,  5F058AD05 ,  5F058AD06 ,  5F058AF04 ,  5F058AG01 ,  5F058AG06 ,  5F058BA07 ,  5F058BA10 ,  5F058BA20 ,  5F058BD01 ,  5F058BD10 ,  5F058BD19 ,  5F058BF46 ,  5F058BH20 ,  5F058BJ01 ,  5F058BJ02
引用特許:
審査官引用 (3件)

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