特許
J-GLOBAL ID:200903071785614224
半導体装置の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
芝野 正雅
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-145138
公開番号(公開出願番号):特開2000-200833
出願日: 1999年05月25日
公開日(公表日): 2000年07月18日
要約:
【要約】【課題】 信頼性に優れ且つ微細化に適した半導体装置を提供すること。【解決手段】 シリコン酸化膜2の上に有機SOG膜3を形成し、有機SOG膜3に対し、ホウ素イオンを注入する。このように、有機SOG膜3にホウ素イオンを導入することで、膜中の有機成分を分解させると共に、膜中に含まれる水分及び水酸基を減少させる。そして、改質SOG膜4にダマシン法を用いて金属配線6を埋め込んだ後、その上に改質SOG膜8を形成し、更に、コンタクトホール9a,9bを形成する。コンタクトホール9a,9b内に接続孔配線10を埋め込んだ後、ダマシン法を用いて、改質SOG膜11及び上層金属配線12を形成する。
請求項(抜粋):
不純物が導入された第1の絶縁膜に第1の配線を埋め込み形成する工程と、前記第1の絶縁膜の上に第2の絶縁膜を形成する工程と、前記第2の絶縁膜に、前記第1の配線に通じるコンタクトホールを形成する工程と、少なくとも前記コンタクトホール内に、前記第1の配線に電気的に接続される第2の配線を形成する工程と、を含むことを特徴とした半導体装置の製造方法。
IPC (2件):
H01L 21/768
, H01L 21/316
FI (4件):
H01L 21/90 K
, H01L 21/316 X
, H01L 21/316 G
, H01L 21/90 C
Fターム (95件):
5F033HH04
, 5F033HH08
, 5F033HH11
, 5F033HH13
, 5F033HH14
, 5F033HH17
, 5F033HH18
, 5F033HH21
, 5F033HH23
, 5F033HH25
, 5F033HH32
, 5F033HH33
, 5F033JJ04
, 5F033JJ08
, 5F033JJ11
, 5F033JJ13
, 5F033JJ14
, 5F033JJ17
, 5F033JJ18
, 5F033JJ21
, 5F033JJ23
, 5F033JJ25
, 5F033JJ32
, 5F033JJ33
, 5F033KK04
, 5F033KK08
, 5F033KK11
, 5F033KK13
, 5F033KK14
, 5F033KK17
, 5F033KK18
, 5F033KK21
, 5F033KK23
, 5F033KK25
, 5F033KK32
, 5F033KK33
, 5F033MM01
, 5F033MM02
, 5F033MM12
, 5F033MM13
, 5F033NN06
, 5F033NN07
, 5F033PP06
, 5F033PP15
, 5F033PP27
, 5F033QQ09
, 5F033QQ13
, 5F033QQ14
, 5F033QQ16
, 5F033QQ23
, 5F033QQ28
, 5F033QQ37
, 5F033QQ48
, 5F033QQ60
, 5F033QQ61
, 5F033QQ62
, 5F033QQ63
, 5F033QQ64
, 5F033QQ65
, 5F033QQ66
, 5F033QQ92
, 5F033RR04
, 5F033RR06
, 5F033RR09
, 5F033RR12
, 5F033RR22
, 5F033SS01
, 5F033SS02
, 5F033SS04
, 5F033SS07
, 5F033SS12
, 5F033SS13
, 5F033SS14
, 5F033SS15
, 5F033SS22
, 5F033TT02
, 5F033XX01
, 5F033XX10
, 5F033XX12
, 5F058AD04
, 5F058AD05
, 5F058AD06
, 5F058AF04
, 5F058AG01
, 5F058AG06
, 5F058BA07
, 5F058BA10
, 5F058BA20
, 5F058BD01
, 5F058BD10
, 5F058BD19
, 5F058BF46
, 5F058BH20
, 5F058BJ01
, 5F058BJ02
引用特許:
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