特許
J-GLOBAL ID：200903072172837090

光ファイバー歪みセンサーとそれを用いた測定機器

発明者：
佐々木 一正

佐々木 一正 について


出願人/特許権者：
佐々木 一正

佐々木 一正 について

, 
株式会社アドヴァンストテクノロジ

株式会社アドヴァンストテクノロジ について


代理人 (7件)： 韮澤 弘 ,  阿部 龍吉 ,  蛭川 昌信 ,  内田 亘彦 ,  菅井 英雄 ,  青木 健二 ,  米澤 明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-116600
公開番号（公開出願番号）：特開2005-300337
出願日： 2004年04月12日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：
【課題】 光ファイバーグレーティング以外の波長計等を用いることなく、高感度、高信頼性で長期間安定に動作する光ファイバー歪みセンサーとそれを用いた測定機器。【解決手段】 光ファイバーグレーティング2、3を用いた歪センサーであって、弾性板1の表面及び裏面にそれぞれ別々の光ファイバーグレーティング2、3が固定されてなり、光源5から一方の光ファイバーグレーティング2に入射させて反射された光成分を他方の光ファイバーグレーティング3に入射させ、その他方の光ファイバーグレーティング3を透過した光強度又は反射した光強度を検出することにより弾性板1の歪みを検出する光ファイバー歪みセンサー。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光ファイバーグレーティングを用いた歪センサーであって、弾性板の表面及び裏面にそれぞれ別々の光ファイバーグレーティングが固定されてなり、光源から一方の光ファイバーグレーティングに入射させて反射された光成分を他方の光ファイバーグレーティングに入射させ、その他方の光ファイバーグレーティングを透過した光強度又は反射した光強度を検出することにより弾性板の歪みを検出することを特徴とする光ファイバー歪みセンサー。
IPC (1件)：
G01L9/00
FI (1件)：
G01L9/00 B
Fターム (8件)：
2F055AA40 ,  2F055BB20 ,  2F055CC02 ,  2F055DD20 ,  2F055EE31 ,  2F055FF02 ,  2F055FF11 ,  2F055GG11
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM