特許
J-GLOBAL ID:200903075899754692

変形検査方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 韮澤 弘 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-205362
公開番号(公開出願番号):特開2000-039309
出願日: 1998年07月21日
公開日(公表日): 2000年02月08日
要約:
【要約】【課題】 光ファイバーグレーティングを用いて橋梁や隧道のような大きな被測定物の1mメッシュ程度のサイズでの平均的変形を計測する。【解決手段】 グレーティング3を内蔵した一定長Lのセンサー光ファイバー2に一定の伸張を付与した状態でその両端4を被測定物1に固定し、そのグレーティング3による反射スペクトル若しくは透過吸収スペクトルの波長変化を測定し、その変化量から被測定物1の両固定位置間の伸縮を長さLの間での平均値として計測する。
請求項(抜粋):
グレーティングを内蔵した一定長Lのセンサー光ファイバーに一定の伸張を付与した状態でその両端を被測定物に固定し、そのグレーティングによる反射スペクトル若しくは透過吸収スペクトルの波長変化を測定し、その変化量から被測定物の両固定位置間の伸縮を前記長さLの間での平均値として計測することを特徴とする変形検査方法。
IPC (3件):
G01B 11/16 ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00
FI (3件):
G01B 11/16 Z ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00 B
Fターム (9件):
2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ00 ,  2H038AA03 ,  2H038AA22 ,  2H038AA34 ,  2H038BA25
引用特許:
審査官引用 (12件)
全件表示

前のページに戻る