特許
J-GLOBAL ID：200903072198476648

異物検査装置

発明者：
渡辺 直人

渡辺 直人 について

, 
斎藤 保雄

斎藤 保雄 について


出願人/特許権者：
ジェイティエンジニアリング株式会社

ジェイティエンジニアリング株式会社 について


代理人 (2件)： 長門 侃二 ,  山中 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-373793
公開番号（公開出願番号）：特開2006-177890
出願日： 2004年12月24日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：
【課題】 コンベア上に載置されて搬送される原料中に混入している異物を光学的に検出するに好適な簡易な構成の異物検査装置を提供する。【解決手段】 可視光および近赤外線光を含む光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する光源と、コンベア上の可視光および近赤外線光を含む光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構を備えて該光の照射領域を局部的に視野する光学系と、この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および/または該原料中に混入している異物による可視光および近赤外線光の反射光の強度をそれぞれ検出する光検出素子と、この光検出素子が検出した可視光および近赤外線光の反射光の強度の差分値が所定のレベル値を超えたとき、原材料中に前記異物が混入していると判定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
コンベア上に載置されて搬送される原料中に混入している異物を光学的に検出する異物検査装置であって、 可視光および近赤外線光を含む光を前記コンベアの所定領域を一様に照射する光源と、 前記コンベア上の前記可視光および前記近赤外線光を含む光の照射領域を局部的に視野する光学系と、 この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および該原料に混入している異物による前記可視光および前記近赤外線光の反射光の強度をそれぞれ検出する光検出素子と、 この光検出素子が検出した前記可視光および前記近赤外線光の反射光の強度の差分値が所定のレベル値を超えたとき、前記原材料中に前記異物が混入していると判定する異物判定手段と を具備したことを特徴とする異物検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/85
FI (1件)：
G01N21/85 Z
Fターム (14件)：
2G051AA01 ,  2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB20 ,  2G051BA08 ,  2G051BB01 ,  2G051BB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CC07 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051EA16
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
  • 特開平2-221844
  • 特開平3-063532
  • 異物検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-003532   出願人：ジェイティエンジニアリング株式会社
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