特許
J-GLOBAL ID:200903072211807225
半導体部品の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
大貫 進介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-247541
公開番号(公開出願番号):特開2002-124521
出願日: 2001年08月17日
公開日(公表日): 2002年04月26日
要約:
【要約】【課題】 信頼性があり、なおかつ最大動作電圧を呈する半導体部品の製造方法と、その半導体部品とを提供する。【解決手段】 半導体部品を製造する方法と、その半導体部品とは、エミッタ層280内の保護膜レッジ640の部分上に誘電層620を形成し、ベース・コンタクト660を誘電層620上に重ねる段階を備える。
請求項(抜粋):
半導体部品を製造する方法であって:a)エミッタ層(280)内の保護膜レッジの少なくとも一部分上に誘電体層(620)を形成する段階;およびb)前記誘電体層上にベース・コンタクト(660)を重ねる段階であり、半導体部品を形成する段階;によって構成されることを特徴とする方法。
IPC (3件):
H01L 21/331
, H01L 21/3065
, H01L 29/737
FI (2件):
H01L 29/72 H
, H01L 21/302 J
Fターム (30件):
5F003AP04
, 5F003BA01
, 5F003BA11
, 5F003BA13
, 5F003BA92
, 5F003BB02
, 5F003BB08
, 5F003BC08
, 5F003BE90
, 5F003BF06
, 5F003BF90
, 5F003BM02
, 5F003BM03
, 5F003BP11
, 5F003BP32
, 5F003BP94
, 5F003BP96
, 5F003BS04
, 5F004AA05
, 5F004BA04
, 5F004DA01
, 5F004DA05
, 5F004DA11
, 5F004DA18
, 5F004DA22
, 5F004DA24
, 5F004DA26
, 5F004DB00
, 5F004DB12
, 5F004DB21
引用特許:
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