特許
J-GLOBAL ID:200903072356242501

X線断層撮影装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊藤 信和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-308491
公開番号(公開出願番号):特開2008-119332
出願日: 2006年11月15日
公開日(公表日): 2008年05月29日
要約:
【課題】 デュアルエネルギー像において、位置ずれが生じている箇所を示すことができるX線断層撮影装置を提供することにある。【解決手段】 X線断層撮影装置(10)は、X線を被検体に照射するX線管(101)と、被検体に照射された第一エネルギースペクトルの第一X線投影データと被検体に照射された第二エネルギースペクトルの第二X線投影データとを、被検体の同一の撮影部について取得するX線投影データ取得部と(103)、第一X線投影データと第二X線投影データとに基づいて、第一断層画像と第二断層画像とを画像再構成する画像再構成手段(23)と、第一断層画像を構成する第一画素と、第二断層画像を構成し第一画素と同じ位置関係にある第二画素との実測比率を計算する比率計算部(27)と、実測比率があらかじめ記憶された所定比率の範囲に入っているかを判定する第一判定部(29-1)と、を備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
第一エネルギースペクトルを有するX線と、前記第一エネルギースペクトルとは異なる第二エネルギースペクトルを有するX線とを被検体に照射するX線管と、 前記被検体に照射された前記第一エネルギースペクトルの第一X線投影データと前記被検体に照射された前記第二エネルギースペクトルの第二X線投影データとを、前記被検体の同一の撮影部について取得するX線投影データ取得部と、 前記X線投影データ取得部において取得した前記第一X線投影データと前記第二X線投影データとに基づいて、第一断層画像と第二断層画像とをそれぞれ画像再構成する画像再構成手段と、 前記第一断層画像を構成する第一画素と、前記第二断層画像を構成し前記第一画素と同じ位置関係にある第二画素との実測比率を計算する比率計算部と、 前記実測比率があらかじめ記憶された所定比率の範囲に入っているかを判定する第一判定部と を備えることを特徴とするX線断層撮影装置。
IPC (1件):
A61B 6/03
FI (1件):
A61B6/03 373
Fターム (9件):
4C093AA22 ,  4C093CA13 ,  4C093EA07 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FF21 ,  4C093FF23 ,  4C093FF34 ,  4C093FG01
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (8件)
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