特許

J-GLOBAL ID：200903072399676173

研削工具の砥粒突出量測定装置及び測定方法

発明者： 川下 智幸
出願人/特許権者： 佐世保工業高等専門学校長
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-199940
公開番号（公開出願番号）：特開2004-045078
出願日： 2002年07月09日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：

【課題】研削工具における砥粒の突出量を短時間のうちに高精度に測定する。【解決手段】砥石10上の測定対象位置について、カメラ付き顕微鏡40の焦点位置を砥面と垂直の方向にステップ的に可変しながら砥面を撮像する。そして、これにより得られた画像データを予め記憶しておいた砥粒20の先端部に対応する基本画像パターンVA及び砥粒20の底部に対応する基本画像パターンVCと比較して、この基本画像パターンVA,VCと最も近似する画像データを抽出し、この抽出された画像データを撮像したときの焦点位置の差から砥粒20の突出量を算出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

工具基体の砥粒を散設した面を砥面として使用する研削工具の上記砥粒の突出量を測定する装置において、 前記砥面に対向して配置され、前記砥面を撮像してその画像データを出力する撮像ユニットと、 前記撮像ユニットに接続された制御ユニットとを具備し、 前記制御ユニットは、 前記撮像ユニットの前記砥面に対する焦点位置を、前記砥面の垂直方向に可変する焦点可変手段と、 前記焦点可変手段により可変設定される複数の焦点位置において前記撮像ユニットが撮像した画像データを取り込む画像入力手段と、 前記画像入力手段により取り込まれた前記複数の焦点位置における画像データを予め用意した前記砥粒の基本画像パターンと比較し、この基本画像パターンと近似する画像データを検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された画像データを得たときの焦点位置をもとに、前記砥粒の突出量を算出する算出手段とを、備えることを特徴とする研削工具の砥粒突出量測定装置。

IPC (2件)：

G01B11/02 ,  G06T1/00

FI (2件)：

G01B11/02 H ,  G06T1/00 300

Fターム (27件)：

2F065AA06 ,  2F065AA20 ,  2F065AA24 ,  2F065AA25 ,  2F065BB05 ,  2F065CC10 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF10 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM07 ,  2F065PP24 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  3C063CC30 ,  3C063DD10 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA19 ,  5B057DA01 ,  5B057DB02 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC33

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 画像認識装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-065123   出願人：富士通株式会社
• 砥石状態評価法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-259852   出願人：株式会社リコー
• 高さ測定装置及び方法とこれを利用した検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-140269   出願人：ソニー株式会社