特許
J-GLOBAL ID：200903072712601864

フォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ

発明者：
大石 隆一

大石 隆一 について

, 
田中 潤一

田中 潤一 について

, 
中村 好伸

中村 好伸 について

, 
幡 俊雄

幡 俊雄 について

, 
高木 悛公

高木 悛公 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (1件)： 小池 隆彌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-038585
公開番号（公開出願番号）：特開平11-237391
出願日： 1998年02月20日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：
【要約】【課題】 フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)で、ラマン分光測定の際には感度を上げるためには、入射光の強度を上げる必要があり、それはピックアップの先端部の温度上昇の問題が生じた。また、表面増強ラマン分光法は高感度であるが、高い分解能は有していなかった。そこで本発明では、フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)のもつ高分解能と、表面増強ラマン分光法のもつ高感度測定との両方の特長を実現する光ピックアップを提供する。【解決手段】 本発明に係るフォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)用ピックアップであって、試料表面に最も接近あるいは接触する先端部分にアイランド状金属を有することを特徴としている。このヒ ゚ックアッフ ゚を用いて、試料表面を走査すると、入射光がヒ ゚ックアッフ ゚先端に到達したとき、試料表面では表面増強ラマン分光法と同一の効果が発生し、結果的に測定の際の感度を大幅に向上する。また、上記金属表面に誘起された電場は、空間的に急激に減衰するので、表面近傍の情報を選択的に抽出し、S/N比のよいデータを提供することができる。
請求項（抜粋）：
フォトン走査トンネル顕微鏡(PSTM)用ピックアップであって、試料表面に最も接近あるいは接触する先端部分にアイランド状金属を有することを特徴とするフォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ。
IPC (5件)：
G01N 37/00 ,  G01B 11/30 ,  G01J 3/44 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/65
FI (6件)：
G01N 37/00 E ,  G01N 37/00 G ,  G01B 11/30 Z ,  G01J 3/44 ,  G01N 21/27 C ,  G01N 21/65
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM