特許
J-GLOBAL ID:200903072928000806

個々の物品または材料積層体などからなる複数のユニットの検査デバイス

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-113704
公開番号(公開出願番号):特開平11-337501
出願日: 1999年04月21日
公開日(公表日): 1999年12月10日
要約:
【要約】【課題】物品または材料積層体などからなる複数のユニットの検査デバイス。【解決手段】検査用セットを援用して、複数の部分、層などからなる物品に検査を行うためのデバイス。物品、特に煙草グループ、材料ウエブ等は、デバイスを越えて移送され、物品からの反射光は、光学的検査部材、特定すれば、物品の長手方向を横断して設けられるCCDリニアーアレーチップによって検出される。物品の外形は、前記チップによって光の輝度の相違によって検出され、評価ユニット中で処理される。
請求項(抜粋):
検査部材として複数の光感受性部品を備えるCCDリニアーアレーチップ(10)である点、および、検査対象である物品の外形が、反射光に基づいて、CCDリニアーアレーチップ(10)によって探知されることができるように、検査対象である物品または材料ウエブの層の長手方向を横断するように向けられる点に特徴を有する、複数の(個々の)パーツ、特に複数の個々の物品、材料層等、例えば、煙草グループ(12)、ボビン(42)、材料ウエブ(58)空なるユニットを、これらが完全におよび/または正確に形成されていることを、多数の光感受性検査部材と評価デバイスを備える検査用セット(23)中において検査するためのデバイス。
引用特許:
審査官引用 (8件)
  • 特開昭63-034523
  • 特開平4-070553
  • 疵検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-073783   出願人:新日本製鐵株式会社
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