特許
J-GLOBAL ID：200903072993117982
集積回路装置の設計用データベース及び集積回路装置の設計方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-124034
公開番号（公開出願番号）：特開2000-315221
出願日： 1999年04月30日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：
【要約】【課題】 テスト戦略を最適化しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びテスト戦略を最適化するための設計方法を提供する。【解決手段】 設計要求がなされると、故障検査戦略最適化手段800により、VCDB100からRT層のVC(RT-VC)と、故障検査方式とが選択される。設計要求には、システムLSIの要求仕様(面積,ピン数,テスト時間,優先制約重み情報など)や、VC情報がある。故障検査戦略最適化手段800は、各種のパラメータを考慮した最適化の演算を行ない、最適な故障検査戦略と、1チップ故障検査制御回路とを生成する。VCDB100には、機能が同じでテスト手法が互いに異なる複数のVCが格納されており、テストコストに影響を与えるパラメータをユーザの優先順位に応じて重み付けを行なって、トータルのテストコストを最小化するテスト手法を選択することができる。
請求項（抜粋）：
集積回路装置を設計するために必要なデータを格納する複数のコアを有する集積回路装置の設計用データベースであって、機能が同じでテスト手法が互いに異なる複数のコアが格納されていることを特徴とする集積回路装置の設計用データベース。
IPC (3件)：
G06F 17/50
, G06F 11/22 330
, H01L 21/82
G06F 15/60 670 Z
, G06F 11/22 330 B
, G06F 15/60 654 K
, G06F 15/60 664 K
, G06F 15/60 670 G
, H01L 21/82 C
5B046AA08
, 5B046BA09
, 5B046JA04
, 5B046KA05
, 5B048AA20
, 5B048CC18
, 5B048DD05
, 5B048DD10
, 5B048EE01
, 5B048EE08
, 5B048FF02
, 5F064DD25
, 5F064DD39
, 5F064HH10
, 5F064HH11
, 5F064HH14
