特許

J-GLOBAL ID：200903073136059931

姿勢位置測定装置及び測定方法

発明者： 笹田 一郎
出願人/特許権者： 科学技術振興事業団
代理人 (1件)： 橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-094720
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292111
出願日： 1999年04月01日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：

【要約】【課題】 姿勢と位置を同時に検出することによりデータ処理を簡素化し、高速検出を可能とする。【解決手段】 姿勢位置測定装置50内の計測領域に3軸磁界センサであるセンサ1を配置する。2組の第1及び第2のコイル10及び20により、計測領域にZ軸とX軸に平行な向きを持った2種類の一様磁界hX及びhZをそれぞれ発生させる。一様磁界により、センサ1のローカル座標系(U,V,W)で測定した磁界を、グローバル座標系(X,Y,Z)に変換して姿勢を測定する。両端に巻いた1対のコイルである第3のコイル30に互いに逆方向の電流を流すことにより線形勾配磁界を発生させ、位置を測定する。

請求項（抜粋）：

センサの姿勢及び位置を測定する姿勢位置測定装置であって、第1の軸方向に一様磁界を発生する第1のコイルと、第1の軸方向と直交する第2の軸方向に一様磁界を発生する第2のコイルと、直交する3軸方向に線形勾配磁界を発生する第3のコイルとを備え、前記第1及び第2のコイルで発生された磁界によりセンサの姿勢を測定し、前記第3のコイルで発生された磁界によりセンサの位置を測定する姿勢位置測定装置。

IPC (3件)：

G01B 7/00 ,  G01B 7/30 101 ,  G01R 33/02

FI (3件)：

G01B 7/00 D ,  G01B 7/30 101 A ,  G01R 33/02 K

Fターム (16件)：

2F063AA04 ,  2F063AA37 ,  2F063BA29 ,  2F063BD15 ,  2F063CA11 ,  2F063DA05 ,  2F063DD08 ,  2F063GA01 ,  2F063KA01 ,  2F063LA00 ,  2G017AA01 ,  2G017AC09 ,  2G017AD04 ,  2G017AD42 ,  2G017BA03 ,  2G017BA15

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 位置および配向の磁気測定
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平7-511002   出願人：バイオセンス,インコーポレイテッド
• 傾斜面方位測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-128724   出願人：山口隆男