特許
J-GLOBAL ID:200903073202844157
部材検査装置及び部材検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-067135
公開番号(公開出願番号):特開2003-270142
出願日: 2002年03月12日
公開日(公表日): 2003年09月25日
要約:
【要約】【課題】 表面反射光の影響を小さくして、実際に紫外線吸収塗装において吸収された紫外線の量を計測することができる部材検査装置を提供する。【解決手段】 部材検査装置は、紫外線を吸収する部材4に対して紫外線を照射する光源部3と、前記紫外線の反射光の輝度を計測する紫外線カメラ2とを備えたものである。前記紫外線カメラ2と前記光源部3は、光源部3から照射された紫外線20が前記部材4で正反射された正反射光21と前記紫外線カメラの光軸22方向とが所定角度α以上になるように配置されている。所定角度αは正反射光がカメラに入射しにくくなるような角度であり、60度以上120度以下であることが好ましい。
請求項(抜粋):
紫外線を吸収する部材に対して紫外線を照射する光源部と、前記紫外線の反射光の輝度を計測する紫外線カメラとを備えた部材検査装置であって、前記光源部から照射された紫外線が前記部材で正反射された正反射光と前記紫外線カメラの光軸方向とが所定角度以上になるように前記光源部及び前記紫外線カメラがそれぞれ配置され、前記紫外線カメラに前記正反射光が入射しにくいように構成されていることを特徴とする部材検査装置。
IPC (4件):
G01N 21/47
, B05C 21/00
, B05D 3/00
, G01N 21/84
FI (4件):
G01N 21/47 B
, B05C 21/00
, B05D 3/00 D
, G01N 21/84 Z
Fターム (36件):
2G051AA90
, 2G051AB12
, 2G051BA05
, 2G051BB01
, 2G051BB03
, 2G051BB05
, 2G051CA04
, 2G051CA06
, 2G051CB05
, 2G051EA11
, 2G051EB01
, 2G051EC03
, 2G059AA05
, 2G059BB15
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059HH03
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM09
, 4D075BB46Z
, 4D075BB91Z
, 4D075BB92Z
, 4D075BB94Z
, 4D075DA06
, 4D075DC03
, 4D075DC38
, 4D075EC47
, 4F042AA02
, 4F042BA10
, 4F042BA22
, 4F042BA25
, 4F042BA27
, 4F042DB41
, 4F042DH09
引用特許:
審査官引用 (7件)
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塗膜検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-335073
出願人:松下電工株式会社
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表面検査方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-239501
出願人:ソニー株式会社
-
特許第2538066号
-
検査方法及び検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-319331
出願人:オムロン株式会社
-
特許第2538066号
-
特公平7-023874
-
特許第2788478号
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