特許

J-GLOBAL ID：200903073382379856

測定用ソケット及びテスト方法

発明者： 山崎 益男
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 古溝 聡 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-025930
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221236
出願日： 1999年02月03日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】 回路が組み込まれているパッケージの電極と回路をテストする測定用ソケットの電極とを接触させる。【解決手段】 接触電極21は、パッケージ11の電極(半田ボール)12と対向するようにコンタクトシート22に固定され、その一端が半田ボール12に接触する。突起25は、電極21とは独立に形成され、電極21の他端に設けられている。押さえ部26は、突起25を固定し、蓋27と共にパッケージ11を挟む。回路のテスト時には、押さえ部26と蓋27とで、パッケージ11を接触電極21に押さえ付ける。半田ボール12が大きい部分では、突起25が縮められ、小さい部分では、突起25は伸びたままである。従って、電極21と半田ボール12の間に生じた隙間30がなくなり、電極21と半田ボール12とが接触する。

請求項（抜粋）：

パッケージ内に組み込まれている回路の動作をテストするために使用される測定用ソケットであって、パッケージの電極と対向する位置に配置され、該パッケージの電極に接触する複数の接触電極と、前記接触電極とは独立して形成され、該接触電極毎に前記パッケージの電極との接触面とは反対側に設けられ、該パッケージの電極と前記接触電極との間に生じる隙間がなくなるように変形し、前記接触電極と前記パッケージの電極とを接触させる複数の弾性体と、から構成されていることを特徴とする測定用ソケット。

IPC (3件)：

G01R 31/26 ,  H01L 23/32 ,  H01R 33/76

FI (3件)：

G01R 31/26 J ,  H01L 23/32 A ,  H01R 33/76

Fターム (5件)：

2G003AG01 ,  2G003AG07 ,  2G003AG12 ,  5E024CA30 ,  5E024CB04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• LSI評価用治具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-254202   出願人：日本電気株式会社
• プローブ装置に用いられるプローブカードデバイス
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-127165   出願人：東京エレクトロン株式会社, 東京エレクトロン山梨株式会社
• プローブ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-215870   出願人：東京エレクトロン株式会社, 東京エレクトロン山梨株式会社