特許
J-GLOBAL ID:200903073526145758

電界センサ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 和泉 良彦 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-140249
公開番号(公開出願番号):特開2001-324525
出願日: 2000年05月12日
公開日(公表日): 2001年11月22日
要約:
【要約】【課題】被測定電界を乱さず電界強度分布を高精度に測定でき、また、2次元あるいは3次元的に多数並べて電界プローブを構成しても、小型な電界プローブを構成できる電界センサを提供する。【解決手段】入射されたレーザ光15の進行方向と平行あるいは直交する方向の電界のみに感度を有する電気光学結晶1を複数個アレイ状に配置して電界プローブ2を構成し、電気光学結晶1にレーザ光15を照射して、偏光検出光学系6、光検出器7により、各電気光学結晶1に結合する電界強度を検出し、信号処理部8により、信号処理することにより、電界強度分布を測定する。
請求項(抜粋):
電気光学結晶にレーザ光を照射して電界強度分布を測定する電界センサであり、前記電気光学結晶を複数個アレイ状に配置してなる電界プローブを備え、また前記電気光学結晶は入射されたレーザ光の進行方向と平行な方向の電界のみに感度を有することを特徴とする電界センサ。
IPC (2件):
G01R 29/08 ,  G02F 1/03 505
FI (3件):
G01R 29/08 F ,  G01R 29/08 D ,  G02F 1/03 505
Fターム (9件):
2H079AA02 ,  2H079AA12 ,  2H079BA02 ,  2H079DA03 ,  2H079EA11 ,  2H079EA27 ,  2H079KA06 ,  2H079KA17 ,  2H079KA20
引用特許:
審査官引用 (17件)
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