特許

J-GLOBAL ID：200903073575606051

蛍光分光法を用いた頚部の扁平上皮内病変を診断するための方法および装置

発明者： リチャード-コータム,レベッカ ,  ラマヌジャム,ナーマラ. ,  マハデバン-ジャンセン,アニタ ,  ミッチェル,ミッシェル フォレン
出願人/特許権者： ボード オブ リージェンツ,ザ ユニバーシティ オブ テキサス システム
代理人 (1件)： 山本 秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-503377
公開番号（公開出願番号）：特表2001-501727
出願日： 1997年06月19日
公開日（公表日）： 2001年02月06日
要約：

【要約】本発明は、頸部癌および前癌の診断における蛍光分光法の使用に関する。複数の照射波長を用いることによって、(i)正常な組織または炎症した組織と、扁平上皮病変(SIL)とを区別し、(ii)高度SILと非高度SILとを区別することが可能である。検出は、インビトロまたはインビボで行われ得る。多変量統計学的分析を用いて、分類精度の減少が最小であるアルゴリズムを再形成するのに必要な蛍光励起発光波長対の数を減少させた。励起発光波長対における蛍光を用いて、3つの励起波長で蛍光発光スペクトルを用いるアルゴリズムと同様の分類精度を有するスクリーニングおよび診断アルゴリズムを再形成および試験した。完全なパラメータおよび低減されたパラメータスクリーニングアルゴリズムは、パパニコロースミアスクリーニングと比較して同様の特異性および実質的に改善された感度で、SILと非SILとを判別し、高度SILと非高度SILとを区別する。

請求項（抜粋）：

組織サンプルにおける組織の異常を検出する方法であって、 (i)該組織サンプルを提供するステップと、 (ii)約337nm、約380nmおよび約460nmの電磁放射波長で該サンプルを照射し、3つの蛍光強度スペクトルを生成するステップと、 (iii)該蛍光強度スペクトルから複数の発光波長を検出するステップと、 (iv)該発光波長から該サンプルが異常である確率を計算するステップと、 を包含する方法。

IPC (3件)：

G01N 21/64 ,  A61B 10/00 ,  G01N 33/483

FI (4件)：

G01N 21/64 Z ,  A61B 10/00 E ,  A61B 10/00 T ,  G01N 33/483 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-116401   出願人：シリックス・テクノロジーズ・コーポレーション
• 光散乱式成分濃度測定装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-194653   出願人：株式会社京都第一科学
• 特開昭58-118948
  
• 特表平6-503245