特許
J-GLOBAL ID:200903073812685905
測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-068767
公開番号(公開出願番号):特開2003-254905
出願日: 2002年03月13日
公開日(公表日): 2003年09月10日
要約:
【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴測定装置等の測定装置において、多数の試料を短時間で測定可能とする。【解決手段】 誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、および試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニット10を支持体2に支持させる。そして、光ファイバー34a〜h等からなる光学系から、支持体2に支持された少なくとも2つの測定ユニット10の各誘電体ブロックに対して並列的に個別のあるいは共通の光ビーム30を入射させるとともに、上記誘電体ブロックと薄膜層との界面で全反射した光ビーム30の強度を測定する光検出手段を、光ビーム30にそれぞれ1つずつ対応させて複数設ける。
請求項(抜粋):
誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、およびこの薄膜層の表面上に試料を保持する試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニットと、これら複数の測定ユニットを支持する支持体と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られる入射角で入射させる入射光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定する光検出手段とを備えてなる測定装置において、前記光学系が、前記支持体に支持された少なくとも2つの測定ユニットの各誘電体ブロックに対して並列的に前記光ビームを入射させるように構成され、前記光検出手段が、前記誘電体ブロックに入射する光ビームにそれぞれ1つずつ対応させて合計で少なくとも2つ設けられていることを特徴とする測定装置。
IPC (5件):
G01N 21/27
, G01N 21/03
, G01N 21/13
, G01N 35/04
, G01N 35/10
FI (5件):
G01N 21/27 C
, G01N 21/03 Z
, G01N 21/13
, G01N 35/04 H
, G01N 35/06 H
Fターム (41件):
2G057AA02
, 2G057AB04
, 2G057AB07
, 2G057AC01
, 2G057BA01
, 2G057BB06
, 2G057HA02
, 2G057HA04
, 2G058AA08
, 2G058CC01
, 2G058CC14
, 2G058CD11
, 2G058ED18
, 2G058GA01
, 2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059DD16
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE09
, 2G059FF08
, 2G059FF09
, 2G059FF11
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059HH01
, 2G059JJ02
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059KK03
, 2G059KK04
, 2G059LL04
, 2G059PP04
引用特許:
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