特許
J-GLOBAL ID：200903073986755350

超音波探傷システムおよび超音波探傷試験方法

発明者：
安達 弘幸

安達 弘幸 について

, 
湯口 康弘

湯口 康弘 について

, 
亀山 育子

亀山 育子 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (4件)： 波多野 久 ,  関口 俊三 ,  猿渡 章雄 ,  古川 潤一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-117252
公開番号（公開出願番号）：特開2005-300363
出願日： 2004年04月12日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：
【課題】自在に探傷面に対する探触子の絶対位置を決定でき、特に探傷面に存在するひびが内部で複雑な形状を有している探傷面に対して良好な探傷結果を得ることができる超音波探傷システムおよび同システムを用いた超音波探傷試験方法を提供する。【解決手段】超音波探傷を実施する際に用いる超音波探傷システムであって、探傷面1に対して三次元動作により探触子を位置決めするスキャナ2と、探触子3と探傷面との距離を計測する距離センサ4と、探傷面の形状等に関する情報に基づいて、探触子の位置、超音波の入射方向および軌跡を表示するキャド装置14と、探傷結果を出力する探傷器6とを備える。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
超音波探傷を実施する際に用いる超音波探傷システムであって、探傷面に対して三次元動作により探触子を位置決めするスキャナと、前記探触子と前記探傷面との距離を計測する距離センサと、前記探傷面の形状等に関する情報に基づいて、前記探触子の位置、超音波の入射方向および軌跡を表示するキャド装置と、探傷結果を出力する探傷器とを備えたことを特徴とする超音波探傷システム。
IPC (3件)：
G01N29/26 ,  G01N29/10 ,  G01N29/22
FI (3件)：
G01N29/26 501 ,  G01N29/10 505 ,  G01N29/22 504
Fターム (16件)：
2G047AB07 ,  2G047BA03 ,  2G047BB06 ,  2G047BC10 ,  2G047DB02 ,  2G047DB03 ,  2G047DB14 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047GA19 ,  2G047GB02 ,  2G047GG20 ,  2G047GG24 ,  2G047GG47 ,  2G047GH06 ,  2G047GH17
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 超音波探傷装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-277238   出願人：株式会社東芝
審査官引用 (5件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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