特許
J-GLOBAL ID：200903074080594762

疵学習装置、疵学習方法、及びコンピュータプログラム

発明者：
小林 尊道

小林 尊道 について

, 
金子 俊一

金子 俊一 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-005124
公開番号（公開出願番号）：特開2009-265082
出願日： 2009年01月13日
公開日（公表日）： 2009年11月12日
要約：
【課題】 教師データを定常的に収集しなくても、疵の検査を可及的に正確に行えるようにする。【解決手段】 学習モデルA〜Cを更新すると、それら学習モデルA〜Cに含まれる部分特徴量空間のうち、更新前後において変化のなかった部分特徴量空間の数に基づいて、検査員が設定した"疵種に関する正解データ"を疵データに付与して学習モデルを生成する教師付き学習と、学習モデルに適用することにより得られた"疵種に関するデータ"を疵データに付与して学習モデルを生成する教師なし学習との何れを行うのかを自動的に判定する。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
検査対象物の画像から、疵に関する特徴量を含む疵データを取得する取得手段と、 前記取得手段により取得された疵データであって、複数の疵種における疵データを用いて、当該複数の疵種を分離できる特徴量の値の組み合わせを判別する判別手段と、 前記判別手段により、複数の疵種を分離できると判別された特徴量の値の組と、当該複数の疵種とを対応付けるための部分特徴量空間から学習モデルを生成する生成手段と、 前記生成手段により生成された学習モデルを記憶媒体に記憶して、当該記憶媒体に記憶されている学習モデルを更新する更新手段と、 前記記憶媒体に既に記憶されている学習モデルと、前記生成手段により新たに生成された学習モデルとを比較して、学習モデルを自律して生成するか否かを判定する判定手段とを有することを特徴とする疵学習装置。
IPC (3件)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/892 ,  G06T 7/00
FI (3件)：
G01N21/88 J ,  G01N21/892 B ,  G06T7/00 350B
Fターム (14件)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AC04 ,  2G051ED21 ,  2G051GD03 ,  5L096FA18 ,  5L096FA37 ,  5L096FA59 ,  5L096FA64 ,  5L096FA70 ,  5L096GA34 ,  5L096JA11 ,  5L096JA22 ,  5L096KA04
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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