相対直線位置測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉村暁秀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-306734
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131006
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：

【要約】【課題】直線位置の測定結果を、できる限り最良に、すなわち最も正確に生ぜしめると共に、磁界の強さ及び温度の変化や、距離の誤差にほとんど依存しないようにした廉価な相対直線位置測定装置を提供する。【解決手段】予め規定された方向で直線的変化しうる、センサ2と磁性体1との間の相対直線位置を測定する相対直線位置測定装置において、前記センサ2が磁気抵抗角度センサ2として構成され、前記磁性体1として磁気ストリップ1が用いられ、この磁気ストリップ1が、一対の磁極と、種々の角度でこの磁気ストリップ1の長さ全体に亙って流れている磁界の磁力線とを有し、前記磁気抵抗角度センサ2を通る磁界の角度が前記磁気ストリップ1に対する前記磁気抵抗角度センサ2の相対位置に依存し、この相対位置を前記磁気抵抗角度センサ2の出力信号から計算しうるようにする。

請求項（抜粋）：

予め規定された方向で直線的変化しうる、センサと磁性体との間の相対直線位置を測定する相対直線位置測定装置において、前記センサが磁気抵抗角度センサとして構成され、前記磁性体として磁気ストリップが用いられ、この磁気ストリップが、一対の磁極と、種々の角度でこの磁気ストリップの長さ全体に亙って流れている磁界の磁力線とを有し、前記磁気抵抗角度センサを通る磁界の角度が前記磁気ストリップに対する前記磁気抵抗角度センサの相対位置に依存し、この相対位置を前記磁気抵抗角度センサの出力信号から計算しうるようになっていることを特徴とする相対直線位置測定装置。

IPC (2件)：

G01B 7/00 , G01D 5/18

FI (2件)：

G01B 7/00 J , G01D 5/18 L

引用特許：

審査官引用 (4件)

位置センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-214790 出願人：フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ
回転可能部材の無接触形回転角検出装置
公報種別：公表公報出願番号：特願平8-516448 出願人：ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
特開平2-306113

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