特許
J-GLOBAL ID:200903074475015834
熱物性測定装置、熱物性測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
本庄 武男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-132476
公開番号(公開出願番号):特開2006-343325
出願日: 2006年05月11日
公開日(公表日): 2006年12月21日
要約:
【課題】加熱光と検出光との位置関係の変動、環境要因変化に依存して生じる前記加熱光の高周波成分に基づく測定結果の変動を極力防止し、これにより前記熱物性測定の再現性、信頼性を高く保ち、また、試料の熱伝導率と体積熱容量とを個別に測定可能な熱物性測定装置を提供すること。 【解決手段】試料7における加熱光Eの照射位置、検出光Dの照射位置を測定し、その測定結果に基づいてダイクロイックミラー19の向きを変位させ、両者の照射位置が予め定められた目標相対位置関係となるように加熱光Eの照射位置を調節する。また、断続光に変換された加熱光Eを加熱光測定器24により検出し、その検出結果に基づいて歪波成分を除去するようにドライバ8に入力する強度変調信号の調節を行う。また、ビーム調整器18aにより試料7における加熱光Eの照射径を調節して複数回測定した測定値に基づき、試料7の熱伝導率と体積熱容量とを個別に測定する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
所定の強度分布を有する加熱光を試料の測定部に照射する加熱光照射手段と、前記試料の測定部に所定の検出光を照射する検出光照射手段と、前記試料の測定部から反射した前記検出光の強度を測定する検出光強度測定手段と、を備えた熱物性測定装置であって、
前記試料の測定部における前記加熱光の照射位置を測定する加熱光照射位置測定手段と、
前記試料の測定部における前記検出光の照射位置を測定する検出光照射位置測定手段と、
前記加熱光照射位置測定手段及び前記検出光照射位置測定手段の両測定結果に基づいて、前記試料の測定部における前記検出光の照射位置と、前記試料の測定部における前記加熱光の照射位置との相対位置関係を予め定められた目標の位置関係となるように調節する相対位置関係調節手段と、
を具備してなることを特徴とする熱物性測定装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (7件):
2G040AA01
, 2G040AB08
, 2G040BA25
, 2G040CA23
, 2G040EA06
, 2G040EB02
, 2G040EC04
引用特許:
出願人引用 (1件)
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微小領域熱物性測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-290555
出願人:工業技術院長, 株式会社ベテル, 竹歳尚之, 馬場哲也
審査官引用 (3件)
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微小領域熱物性測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-290555
出願人:工業技術院長, 株式会社ベテル, 竹歳尚之, 馬場哲也
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光熱変換分光分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-035105
出願人:株式会社分子バイオホトニクス研究所
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熱レンズ吸光分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-051900
出願人:核燃料サイクル開発機構
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