特許
J-GLOBAL ID：200903074548300869

試験用コネクタを備えた電子回路ユニット

発明者：
鎌田 幸一

鎌田 幸一 について


出願人/特許権者：
アルプス電気株式会社

アルプス電気株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-120089
公開番号（公開出願番号）：特開2002-311103
出願日： 2001年04月18日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：
【要約】【課題】 試験中に試験用コネクタが外れた場合にはそれまでの試験を無効とするように試験を終了させる。【解決手段】 プリント配線基板1と、プリント配線基板1に実装されたJTAGテスト可能な集積回路2と、プリント配線基板1に取り付けられた試験用コネクタ3とを備え、集積回路2はJTAGテストを制御するコントローラ2cを有し、試験用コネクタ3には、コントローラ2cをJTAGテストに先立ちリセットするためのリセット信号が外部から入力されるリセット端子3dを少なくとも設け、リセット端子3dをプルダウン抵抗4によって接地した。
請求項（抜粋）：
プリント配線基板と、前記プリント配線基板に実装されたJTAGテスト可能な集積回路と、前記プリント配線基板に取り付けられた試験用コネクタとを備え、前記集積回路は前記JTAGテストを制御するコントローラを有し、前記試験用コネクタには、前記コントローラを前記JTAGテストに先立ちリセットするためのリセット信号が外部から入力されるリセット端子を少なくとも設け、前記リセット端子をプルダウン抵抗によって接地したことを特徴とする試験用コネクタを備えた電子回路ユニット。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04
FI (2件)：
G01R 31/28 G ,  H01L 27/04 T
Fターム (8件)：
2G132AK15 ,  2G132AK22 ,  5F038DT02 ,  5F038DT03 ,  5F038DT04 ,  5F038DT08 ,  5F038DT15 ,  5F038EZ20
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM