特許
J-GLOBAL ID:200903074548631814

透明板状体の欠点検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 坂本 栄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-022432
公開番号(公開出願番号):特開平8-220021
出願日: 1995年02月10日
公開日(公表日): 1996年08月30日
要約:
【要約】【目的】従来困難であった非常に微小もしくは淡いディストーションを伴った欠点を安価にしかも確実に検出可能にした透明板状体の欠点検出方法を提供することを目的とする。【構成】本発明は、光源からの光を光源近くに設けた複数の微小な遮光部と透光部が交互に形成されたスリット板を通して透明板状体に投光し、透明板状体を挟んで前記光源とは反対側に設けた一次元カメラにより、濃淡の変化を撮像し、画像処理装置により欠点を検出する方法において、カメラの焦点をスリット板の遮光部と投光部の濃淡レベルの合成波形の最大値と最小値の差が最小となる位置近傍に焦点を合わて欠点像を検出するようにしたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
光源からの光を光源近くに設けた複数の微小な遮光部と透光部が交互に形成されたスリット板を通して透明板状体に投光し、透明板状体を挟んで前記光源とは反対側に設けた一次元カメラにより、濃淡の変化を撮像し、画像処理装置により欠点を検出する方法において、カメラの焦点をスリット板の遮光部と投光部の濃淡レベルの合成波形の最大値と最小値の差が最小となる位置近傍に焦点を合わて欠点像を検出するようにしたことを特徴とする透明板状体の欠点検出方法。
IPC (4件):
G01N 21/89 ,  G01N 21/88 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00
FI (4件):
G01N 21/89 D ,  G01N 21/88 J ,  G06F 15/64 320 C ,  G06F 15/62 400
引用特許:
審査官引用 (2件)

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