特許
J-GLOBAL ID：200903075015126405
コンピュータ断層撮像方法及び装置
発明者：
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
角田 芳末
, 磯山 弘信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-197383
公開番号（公開出願番号）：特開2005-037158
出願日： 2003年07月15日
公開日（公表日）： 2005年02月10日
要約：
【課題】より高い拡大率での被検査体の内部構造データを得ることができるコンピュータ断層撮像方法及び装置を提供することを目的とする。【解決手段】X線源と、被検査体の透過X線投影像を撮像する二次元検出手段と、X線源と二次元検出手段との間に配置された被検査体を載置して所定角度変位で回転する回転基台部とを有し、各角度変位毎に撮像した被検査体の投影像より内部構成データを再構成するものであって、被検査体の一部分が二次元検出手段に投影されるよう回転基台部の位置及び二次元検出手段の位置や角度を調整し、この被検査体の一部分を各角度変位毎に撮像して部分投影像群を得、この被検査体の残り部分がこの二次元検出手段に投影されるようこの回転基台部の位置及び二次元検出手段の位置や角度を調整し、この被検査体の残り部分を各角度変位毎に撮像して部分投影像群を得、之等部分投影像群よりこの被検査体の拡大内部構造データを算出する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
X線源と、被検査体の透過X線を撮像する二次元検出手段と、前記X線源と前記二次元検出手段との間に配置された前記被検査体を載置して所定角度変位で回転する回転基台部とを有し、各角度変位毎に撮像した前記被検査体の投影像より内部構成データを再構成するコンピュータ断層撮像方法において、
前記被検査体の一部分が前記二次元検出手段に投影されるよう前記回転基台部及び/または前記二次元検出手段の位置を調整し、前記被検査体の一部分を各角度変位毎に撮像して部分投影像群を得るステップと、
前記被検査体の残り部分が前記二次元検出手段に投影されるよう前記回転基台部及び/または前記二次元検出手段の位置を調整し、前記被検査体の残り部分を各角度変位毎に撮像して部分投影像群を得るステップと、
之等部分投影像群より前記被検査体の拡大内部構造データを算出するステップとを有する
ことを特徴とするコンピュータ断層撮像方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (15件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001GA13
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001JA06
, 2G001JA08
, 2G001JA12
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001PA12
審査官引用 (7件)
-
特開昭61-141346
-
X線撮影方法および装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-008354
出願人：株式会社日立メディコ
-
コンピュータ断層撮影方法および装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-148407
出願人：東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
全件表示
前のページに戻る
