液晶パネルの評価方法及び評価装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：上柳雅誉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-355947
公開番号（公開出願番号）：特開2002-162360
出願日： 2000年11月22日
公開日（公表日）： 2002年06月07日
要約：

【要約】【課題】従来方法よりも液晶層に関する情報を精度良く獲得することのできる新規の液晶パネルの評価方法及び評価装置を提供する。【解決手段】入射光学系において偏光板25は所定方向と平行な偏光透過軸25tを有する。この偏光板25を透過することによって上記偏光透過軸25tの方向を含む振動面を有する直線偏光Liが形成され、液晶パネル10に入射角θiで入射する。これに対して、上記の検出光学系は、入射角θiで入射した直線偏光Liの正反射光を検出するように設定されており、入射角θiとほぼ等しい出射角θoで液晶パネル10から出射される正反射光が偏光板26に入射し、最終的に上記光検出器29に導かれる。偏光板26は、偏光板25の偏光透過軸25tに対して光路を基準として平行な偏光吸収軸26aを有する。

請求項（抜粋）：

液晶パネルを光学的に評価するための液晶パネルの評価方法であって、前記液晶パネルに対して所定状態の偏光を入射させ、その正反射光における前記液晶パネルに設けられた液晶層を通過してきた偏光成分の比率を増大させて検出光とし、該検出光を元にパネル評価を行うことを特徴とする液晶パネルの評価方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 , G01B 11/06 , G01B 11/30 , G02F 1/13 101

FI (4件)：

G01N 21/88 H , G01B 11/06 H , G01B 11/30 H , G02F 1/13 101

Fターム (28件)：

2F065AA30 , 2F065BB01 , 2F065BB22 , 2F065CC25 , 2F065DD04 , 2F065FF24 , 2F065GG02 , 2F065GG07 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL02 , 2F065LL33 , 2F065LL34 , 2F065LL46 , 2F065LL67 , 2F065MM02 , 2F065QQ28 , 2G051AA90 , 2G051AB20 , 2G051BA11 , 2G051BB17 , 2G051BB20 , 2G051CA06 , 2G051CB01 , 2G051CC20 , 2G051EA25 , 2H088FA11 , 2H088MA20

引用特許：

審査官引用 (7件)

液晶パネルの表示面検査方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-069641 出願人：セイコーエプソン株式会社
反射型液晶ディスプレイパネルの検査用照明治具及び検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-137248 出願人：シャープ株式会社
特開昭61-178648

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