歪み量測定システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (8件)：鈴江武彦 , 河野哲 , 中村誠 , 蔵田昌俊 , 峰隆司 , 福原淑弘 , 村松貞男 , 橋本良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-100487
公開番号（公開出願番号）：特開2004-309218
出願日： 2003年04月03日
公開日（公表日）： 2004年11月04日
要約：

【課題】多数の歪み量を、ファイバ歪計を用いて簡単に測定する。【解決手段】入射光に対する反射光の波長の反射中心波長からのずれ量が測定対象から印加された歪み量に応じて変化するFBGを用いたファイバ歪計13と、各ファイバ歪計がそれぞれ光カプラ14を介して接続された光ファイバ12と、光ファイバの一端から反射中心波長に対して微少波長ずれた測定波長のパルス波形を有した測定光cを印加する狭帯域光源11と、光ファイ及びファイバ歪計の測定光に対するフレネル反射光特性fを測定する特性測定部24と、フレネル反射光特性における各ファイバ歪計の反射光レベルの該当ファイバ歪計に歪みを印加していない状態における基準の反射光レベルからの変化量から、各ファイバ歪計に印加された歪み量を算出する歪み量算出手段32と、算出された各歪み量を出力する歪み量出力手段34とを備えている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

互いに離間した各測定対象に設けられ、入射光に対する反射光の波長の反射中心波長からのずれ量が測定対象から印加された歪み量に応じて変化するFBG(ファイバブラッググレーティング)を用いたファイバ歪計(13)と、前記各ファイバ歪計がそれぞれ光カプラ(14)を介して接続された光ファイバ(12)と、この光ファイバの一端から前記反射中心波長に対して微少波長ずれた測定波長のパルス波形を有した測定光を印加する狭帯域光源(11)と、前記光ファイバ及び前記ファイバ歪計の前記測定光に対するフレネル反射光特性を測定する特性測定部(24)と、この特性測定部で得られたフレネル反射光特性における各ファイバ歪計の反射光レベルの該当ファイバ歪計に歪みを印加していない状態における基準の反射光レベルからの変化量から、各ファイバ歪計に印加された歪み量を算出する歪み量算出手段(32)と、この歪み量算出部で算出された各ファイバ歪計に印加された歪み量を出力する歪み量出力手段(34)とを備えたことを特徴とする歪み量測定システム。

IPC (8件)：

G01B11/16 , G01D5/26 , G01F23/14 , G01L11/02 , G01L15/00 , G08C15/00 , G08C23/04 , G08C25/00

FI (8件)：

G01B11/16 Z , G01D5/26 D , G01F23/14 , G01L15/00 , G08C15/00 D , G08C25/00 K , G01L11/02 , G08C23/00 A

Fターム (37件)：

2F014AA05 , 2F014BA10 , 2F055AA39 , 2F055BB19 , 2F055CC11 , 2F055DD20 , 2F055EE31 , 2F055FF43 , 2F055GG49 , 2F065AA00 , 2F065AA65 , 2F065FF00 , 2F065FF31 , 2F065GG08 , 2F065LL02 , 2F065QQ03 , 2F065QQ42 , 2F073AA03 , 2F073AA19 , 2F073AB04 , 2F073BB06 , 2F073BC04 , 2F073CC01 , 2F073EE03 , 2F073EF05 , 2F073FH03 , 2F073GG01 , 2F073GG08 , 2F073GG09 , 2F103BA43 , 2F103CA08 , 2F103EB01 , 2F103EB11 , 2F103EB18 , 2F103EC08 , 2F103EC09 , 2F103EC10

引用特許：

審査官引用 (6件)

光ファイバ多点物理量計測システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-161080 出願人：株式会社東芝
分布型センサを利用して物理量の測定または検知もしくはその両方を行う方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-300286 出願人：アルカテル・カーブル
ファイバーブラッグ回折格子温度センサー
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-209951 出願人：行政院国家科学委員会

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