特許
J-GLOBAL ID：200903075460498649

X線異物検出装置

発明者：
上田 聖剛

上田 聖剛 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-130168
公開番号（公開出願番号）：特開2009-192519
出願日： 2008年05月16日
公開日（公表日）： 2009年08月27日
要約：
【課題】被検査物の重なり等により、被検査物の透過X線データ濃度が異物の透過X線データ濃度のほぼ同一になったとしても、確実に異物を検出するX線異物検出装置を提供する。【解決手段】被検査物Pを透過した複数の異なるネルギー帯の透過量を検出するX線検出手段10によって得られる検出信号を異なるネルギー帯毎の透過画像として記憶する透過画像記憶手段21と、透過画像記憶手段21に記憶された複数の異なるエネルギー帯の透過画像から独立成分として異物画像を含む複数の分離画像を分離抽出する独立成分分析手段24を有する画像処理手段23を備え、独立成分分析手段24によって分離抽出された異物画像に基づいて被検査物Pの中に異物が含まれているか否かを判定する。 【選択図】図1
請求項（抜粋）：
搬送される被検査物にX線を照射し、前記被検査物を透過した複数の異なるエネルギー帯のX線の透過量を検出する検出手段(10)と、 前記検出手段が出力する前記複数の異なるエネルギー帯毎の検出信号に基づいて前記被検査物中に異物が含まれているか否かを判定する判定手段(22)とを備えたX線異物検出装置(1)において、 前記検出手段が出力する検出信号に基づく前記被検査物の前記複数の異なるエネルギー帯毎の透過画像を記憶する透過画像記憶手段(21)と、 前記透過画像記憶手段に記憶された複数の異なるエネルギー帯の透過画像から独立成分として異物画像を含む複数の分離画像を分離抽出する独立成分分析手段(24)を有する画像処理手段(23)とを備え、 前記判定手段は、前記独立成分分析手段によって分離抽出された異物画像に基づいて被検査物中に異物が含まれているか否かを判定することを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01N23/04 ,  G06T1/00 300
Fターム (43件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA08 ,  2G001DA10 ,  2G001EA06 ,  2G001EA20 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001FA18 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001HA20 ,  2G001JA09 ,  2G001JA16 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  2G001QA02 ,  2G001SA01 ,  2G001SA10 ,  2G001SA30 ,  5B057AA02 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE02 ,  5B057CE03 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057DA02 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC23 ,  5B057DC36
引用特許：
出願人引用 (3件)

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