特許
J-GLOBAL ID:200903089460024516
画像処理による異物検出方法および装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-123260
公開番号(公開出願番号):特開2001-307069
出願日: 2000年04月24日
公開日(公表日): 2001年11月02日
要約:
【要約】【課題】画像処理能力にあまり依存しない異物検出方法を提供する。【解決手段】ステップS1で入力された画像データを小領域に略等分割して該小領域毎に異物らしさを評価し、該小領域毎に求めた異物らしさの評価値を画素値とする縮小画像データを生成し(ステップS2)、該縮小画像データを基に異物強調処理(ステップS3)、しきい値処理(ステップS4)を行う。
請求項(抜粋):
被検査物の物性情報を含む画像データを処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記画像データを小領域に略等分割して該小領域毎に異物らしさを評価し、該小領域毎に求めた異物らしさの評価値を画素値とする縮小画像データを生成する段階(S2)と、該縮小画像データにしきい値処理を適用して混入異物の有無を検出する段階(S4)とを有することを特徴とする異物検出方法。
IPC (3件):
G06T 1/00 300
, G01N 23/04
, H04N 1/393
FI (3件):
G06T 1/00 300
, G01N 23/04
, H04N 1/393
Fターム (38件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA06
, 2G001FA08
, 2G001FA30
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001NA17
, 2G001PA11
, 5B057AA02
, 5B057BA03
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC02
, 5B057CD05
, 5B057CE06
, 5B057CH09
, 5B057DA16
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5C076AA22
, 5C076AA36
, 5C076BA06
, 5C076BB40
引用特許:
審査官引用 (6件)
-
X線異物検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-133871
出願人:株式会社島津製作所
-
X線式異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-180731
出願人:株式会社島津製作所
-
X線異物検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-008880
出願人:株式会社島津製作所
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