特許
J-GLOBAL ID：200903075542814379

放射電磁波のベクトル測定方法および装置

発明者：
田辺 英二

田辺 英二 について


出願人/特許権者：
株式会社エー・イー・ティー・ジャパン

株式会社エー・イー・ティー・ジャパン について


代理人 (1件)： 井ノ口 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-189218
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004783
出願日： 2001年06月22日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】 電気部品の比較的近傍のある範囲の放射電磁界の分布状態を簡単に測定する方法および装置を提供する。【解決手段】 本発明による放射電磁波のベクトル測定方法は、以下のステップを含んでいる。一定の位置関係を保って平面内に配置された複数の光検出素子をもつ光検出手段を準備するステップ、前記光検出手段を被測定対象に対して、必要な複数の特定位置に配置する配置ステップ、前記各特定位置ごとに前記光検出手段の前記各光検出素子に発生する光強度をそれぞれ電気信号に取り出す光電変換検出ステップおよび前記光電変換回路の出力をディジタル信号に変換し演算して前記被測定対象の任意の特定点の電界ベクトルを演算する演算ステップである。
請求項（抜粋）：
一定の位置関係を保って平面内に配置される複数の電気光学結晶をもつ光学的検出手段を準備するステップと、前記光学的検出手段を被測定対象に対して、必要な複数の特定位置に配置する配置ステップと、前記各特定位置ごとに前記光学的検出手段の前記各光学的検出器に生ずる光の強度をそれぞれ取り出す検出ステップと、前記検出器の光強度を電気信号に変換する光電変換素子の出力をディジタル信号に変え、そのデータを演算して前記被測定対象の任意の特定点の電界ベクトルを演算する演算ステップとからなる、放射電磁波のベクトル測定方法。
IPC (2件)：
G01R 29/08 ,  G01R 29/10
FI (2件)：
G01R 29/08 F ,  G01R 29/10 A
引用特許：
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM