特許
J-GLOBAL ID：200903075648237486
外観検査方法および同装置
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (3件)：
清水 久義
, 高田 健市
, 清水 義仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-325180
公開番号（公開出願番号）：特開2007-132757
出願日： 2005年11月09日
公開日（公表日）： 2007年05月31日
要約：
【課題】 局所的な欠陥だけでなく大域的な欠陥も検出することができる外観検査方法を提供する【解決手段】被検査物を撮影して得た検査画像を分割した各小領域の欠陥判定により、まず比較的小さい点キズや線キズ等の局所的な欠陥を検出する。そして前記各小領域の濃度平均値を用いて低解像度の新たな検査画像を作成し、この低解像度の新たな検査画像を分割した各小領域の欠陥判定により、比較的大きい染みや汚れ、色むら、柄感不良、色段差等の大域的な欠陥を検出する。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
被検査物を撮影して検査画像を得る撮影ステップと、
前記検査画像を複数の小領域に分割する領域分割ステップと、
各小領域について濃度平均値を含む特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、
抽出した前記特徴量と所定の特徴量基準値とを照合することで欠陥判定を行う良否判定ステップと、
前記各小領域をその濃度平均値を有する画素として扱った低解像度の新たな検査画像を作成する低解像度化ステップと、を有し、
前記低解像度化ステップによって作成された低解像度の新たな検査画像に基づいて、前記領域分割ステップ、前記特徴量抽出ステップおよび前記良否判定ステップをさらに1回以上繰り返すことを特徴とする外観検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/898
, G01N 21/88
, G06T 1/00
G01N21/898 A
, G01N21/88 J
, G06T1/00 300
2G051AA34
, 2G051AA40
, 2G051AB01
, 2G051AB02
, 2G051AC02
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051EB01
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051EC04
, 2G051ED21
, 5B057AA18
, 5B057BA02
, 5B057CA01
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB01
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CD05
, 5B057CD14
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB06
, 5B057DB09
, 5B057DC01
, 5B057DC22
, 5B057DC25
, 5B057DC33
出願人引用 (2件)
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織物検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-331538
出願人：株式会社豊田中央研究所, 豊田紡織株式会社
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画像認識による不良検査方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-341081
出願人：谷電機工業株式会社
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