表面状態解析方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石田敬 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-296750
公開番号（公開出願番号）：特開2001-112722
出願日： 1999年10月19日
公開日（公表日）： 2001年04月24日
要約：

【要約】【課題】生体を対象として多数の波長点における分光画像を得ることの可能な表面状態解析方法を提供する。【解決手段】分光反射率のデータから予め求めた固有ベクトルのデータと、トリスペクトラルカメラを用いて得られた主波長400nm,550nm、および700nmの分光画像とから主成分の成分得点を画素ごとに算出し、これと固有ベクトルの値とから多数の波長点における分光画像を計算により算出する。

請求項（抜粋）：

同一の対象物について第1の複数の波長帯域における分光画像をそれぞれ取得し、該対象物からの反射光のスペクトルに含まれる主成分の成分得点を、該分光画像を構成する画素の値から決定し、決定された成分得点を用いて、第1の複数の波長帯域よりも多い第2の複数の波長帯域における分光画像をそれぞれ計算により決定するステップを具備する表面状態解析方法。

IPC (2件)：

A61B 5/00 , A61B 5/107

FI (2件)：

A61B 5/00 M , A61B 5/10 300 Q

Fターム (3件)：

4C038VA04 , 4C038VB22 , 4C038VC01

引用特許：

出願人引用 (5件)

表面状態解析システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-161872 出願人：株式会社資生堂
表面状態解析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-144018 出願人：株式会社資生堂
肌のくすみ評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-166048 出願人：株式会社ノエビア

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