特許
J-GLOBAL ID：200903075691851465

イオントラップ質量分析装置

発明者：
小西 郁夫

小西 郁夫 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-013534
公開番号（公開出願番号）：特開平10-208692
出願日： 1997年01月28日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：
【要約】【課題】 イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非対称性を与えることなくイオンの検出感度およびイオントラップ質量分析装置の感度を向上させる。【解決手段】 イオントラップ質量分析装置1において、少なくとも一方のエンドキャップ電極3,4のリング電極2と反対側に補助電極11,12を設け、この補助電極にエンドキャップ電極との間で電圧を印加する。イオンは、イオントラップ電極の内部に形成されるリング電極によるトラッピング電界とエンドキャップ電極による補助高周波電界によってトラップされる。このとき、補助電極にエンドキャップ電極との間で直流または高周波電圧を印加すると、エンドキャップ電極に設けた貫通孔を通してイオントラップ電極の内部に、トラッピング電界や補助高周波電界と異なる電界が形成される。この電界はイオンの外部への取り出しを促進させて検出器の検出量を増加させ、検出感度を向上させる。
請求項（抜粋）：
リング電極と、リング電極の両開放端に設けた貫通孔を有する一対のエンドキャップ電極と、RF周波数ωで振幅Vの交流電圧をリング電極に印加する主RF電源と、エンドキャップ電極の少なくとも一方に高周波電圧を印加する補助電源と、前記電源を制御する制御回路と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放出されるイオンを検出する検出器と、検出したイオンの数と振幅Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装置とを備えたイオントラップ質量分析装置において、少なくとも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に、エンドキャップ電極との間で電圧が印加される補助電極を設けたことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
引用特許：
審査官引用 (5件)
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