特許
J-GLOBAL ID:200903076457491567

テストエレメント分析システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 朝日奈 宗太 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-548925
公開番号(公開出願番号):特表2003-518618
出願日: 2000年12月08日
公開日(公表日): 2003年06月10日
要約:
【要約】本発明は、とくに人間あるいは動物の体液などの試料の分析的な検査のために用いられるテストエレメント分析システムである。担持箔5を有するテストエレメント2と、この担持箔5の平面6に固定され、試薬システムが含まれる検査フィールド7とからなる。試薬の試料21との反応は、検知ゾーン24において、光学的に測定可能な変化を引き起こす。それにより、前記変化が分析にとって特徴的な変化をもたらす。本発明のテストエレメント分析システムは、また、光学的に測定可能な変化を測定するための測定装置からなる評価装置を備える。
請求項(抜粋):
とくに人間または動物の体液などの試料の分析的な検査のために用いられるテストエレメント分析システムであって、担持箔(5)と、該担持箔(5)の平面(6)に固定され、分析を行なうために液体状の試料の構成要素が検査フィールド(7)に浸透するように試料(21)と接触される検査フィールド(7)とを有するテストエレメント(2)であって、該検査フィールド(7)が、さらに試料(21)の構成要素と反応することにより、検査フィールド(7)上の担持箔(5)に対向する面における検知ゾーン(24)における視覚的に測定可能な、分析にとって特徴的な変化をもたらす反応システムを有するテストエレメント(2)と、テストエレメント(2)を測定位置に位置付けるためのテストエレメント止め具(12)と、検知ゾーン(24)における視覚的に測定可能な変化を測定するための測定手段(18)とを有する判定器(3)であって、前記測定手段(18)が、検知ゾーン(24)に対して一次光(29)を照射するための発光手段(16)と、検知ゾーン(24)から拡散的に反射される二次光(35)の検知のための検知手段(17)とを有する、判定器(3)とを含むテストエレメント分析システムにおいて、テストエレメント(2)の担持箔(5)が、光学的な導光層(26)を有し、検知フィールド(7)が固定されている担持箔(5)の平面(6)には、検査フィールド(7)の検知ゾーン(24)において導光層(26)から検知ゾーン(24)へと光を出射することを可能とする担持箔(5)への光学的接触が行なわれる光出射領域(33)が含まれており、発光手段(16)の一次光(29)が、該一次光(29)の光路の導光断面(32)が導入面(31)と検知ゾーン(24)とのあいだにおいて導光層(26)の内部を延伸するように、導入面(31)を介して導光層(26)へと入射され、また二次光が検知ゾーン(24)から導光層(26)へと反射され、この二次光の光路の導光断面(34)が検知ゾーン(24)と検知手段(17)とのあいだにおいて担持箔(5)の内部を延伸することを特徴とするテストエレメント分析システム。
IPC (3件):
G01N 21/17 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/66
FI (3件):
G01N 21/17 Z ,  G01N 33/483 C ,  G01N 33/66
Fターム (17件):
2G045AA01 ,  2G045BA11 ,  2G045CA26 ,  2G045DA31 ,  2G045FA11 ,  2G045FB19 ,  2G045JA07 ,  2G059AA05 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059DD03 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF12 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01
引用特許:
審査官引用 (4件)
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