X-Y方式インサーキットテスタの非接触式足浮き検出装置並びに足浮き検出具

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳沢大作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-040781
公開番号（公開出願番号）：特開平9-211083
出願日： 1996年02月02日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：

【要約】【課題】検査時の位置決めを容易にし、リードとパターンに打痕等の損傷を与えないようにする。【解決手段】部品のリードの温度を検出する第1放射温度センサー46と、第1放射温度センサー46から入力信号を受け、レーザー出力を調整するレーザー出力調整器60と、レーザーを部品のリードに放射するレーザー発生器44と、パターンの温度を検出する第2放射温度センサー48と、レーザー発生開始より一定時間経過後における第2放射温度センサー48による検出温度の上昇値がしきい値を下回るか判定し、その上昇値がしきい値を下回る場合に足浮きであると決定する足浮き検出器76とを備える。

請求項（抜粋）：

プリント基板に実装した部品のリード又はそのリードが接続すべきパターンから放射される赤外線を受けて、部品のリード又はパターンの一方の温度を検出する第1放射温度センサーと、その第1放射温度センサーから入力信号を受け、部品のリード又はパターンの温度が一定値を超えないようにレーザー出力を調整するレーザー出力調整器と、そのレーザー出力調整器から出力信号を受けて、レーザーを部品のリード又はパターンに向けて放射するレーザー発生器と、パターン又は部品のリードから放射される赤外線を受けて、他方のパターン又は部品のリードの温度を検出する第2放射温度センサーと、そのレーザー発生開始より一定時間経過後における第2放射温度センサーによる検出温度の上昇値がしきい値を下回るか判定し、その上昇値がしきい値を下回る場合に足浮きであると決定する足浮き検出器を備えることを特徴とするX-Y方式インサーキットテスタの非接触式足浮き検出装置。

IPC (3件)：

G01R 31/302 , G01N 25/72 , G01R 31/02

FI (3件)：

G01R 31/28 L , G01N 25/72 F , G01R 31/02

引用特許：

出願人引用 (8件)

特開昭61-241641
特開昭63-188940
特開昭63-005250

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審査官引用 (2件)

特開昭61-241641
特開昭63-188940

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