特許
J-GLOBAL ID:200903076643370796
X線平面検出器を用いたX線診断装置及びX線診断装置の制御方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-022677
公開番号(公開出願番号):特開平11-318877
出願日: 1999年01月29日
公開日(公表日): 1999年11月24日
要約:
【要約】【課題】 柔軟に撮影及び透視を行うことができる平面検出器を有するX線診断装置を提供する。【解決手段】 平面検出器の一部の領域の画素データを取得して表示する。例えば、X線が照射された領域の画素データを取得して表示する。X線が照射される領域は、X線絞りの開度と、X線絞りから平面検出器までの距離とで予測される。また、平面検出器の画素データの値からも判断できる。被検体の領域も画素データの値から、判断できる。従って、表示装置には、平面検出器全体に対応する画像、X線照射領域に対応する画像、又は被検体領域に対応する画像を表示できる。画素データを取得する平面検出器の領域の大きさに応じて、後段の画像処理手段の処理解像度に合わせて、画素データを取得する際の解像度を変化させる。特に、バイプレーン構成のX線診断装置においては、柔軟に観察すべき領域に追従できるようにする。
請求項(抜粋):
X線を照射するためのX線源と、前記X線源から照射されたX線を検出する平面検出器と、前記平面検出器で検出された任意の領域の画素データを収集して処理する収集処理手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。
IPC (4件):
A61B 6/00 320
, A61B 6/00 300
, A61B 6/06 300
, H04N 1/04
FI (4件):
A61B 6/00 320 Z
, A61B 6/00 300 S
, A61B 6/06 300
, H04N 1/04 E
引用特許:
審査官引用 (5件)
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X線診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-248429
出願人:フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ
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X線診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-164249
出願人:株式会社東芝
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X線診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-198628
出願人:東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
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