特許
J-GLOBAL ID:200903076685299919

トンネル構造体およびトンネル構造体の損傷診断方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡田 英彦 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-339900
公開番号(公開出願番号):特開2003-138892
出願日: 2001年11月05日
公開日(公表日): 2003年05月14日
要約:
【要約】【課題】トンネル構造体などにおける劣化や損傷等の健全性を診断する技術を提供する。【解決手段】導電性粒子8,28の連続的な接触形態を有する導電経路4,24を備えるトンネル構造体とする。この導電経路4,24によれば、トンネル構造体における損傷・劣化の早期検出、損傷部位特定、損傷履歴の記憶などに有効であり、トンネル構造体の健全性診断システムとして適用できる。
請求項(抜粋):
導電性粒子の連続的な接触形態を有する導電経路を有する、トンネル構造体。
IPC (2件):
E21D 11/04 ,  G01L 1/20
FI (2件):
E21D 11/04 Z ,  G01L 1/20 Z
Fターム (6件):
2D055CA03 ,  2D055DA00 ,  2D055DB00 ,  2D055KA00 ,  2D055LA13 ,  2D055LA16
引用特許:
審査官引用 (9件)
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