特許

J-GLOBAL ID：200903076691736140

レンズの検査方法及び装置

発明者： 脇田 武 ,  末原 和芳
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 小林 和憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-116019
公開番号（公開出願番号）：特開平8-304052
出願日： 1995年05月15日
公開日（公表日）： 1996年11月22日
要約：

【要約】【目的】 簡単な構成で、レンズの表面又は内部に存在する欠陥を確実に検出する。【構成】 投光器11は、スポット状の検査光25を一定方向に高速走査し、投光器移動装置13によって検査光25の走査方向と交叉する方向に移動自在に設けられている。検査光25は、レンズ15の光軸15bと平行にレンズ面15a上に照射され、レンズ15を透過して受光器12に入射する。受光器12は、レンズ15の光軸15b上に配置され、その受光面12aの中央部に検査光25の入光を阻止するためのマスク27が設けられている。この受光器12は、受光面12aに入射した検査光25を光電検出し、その強度に比例した光電変換信号を信号処理回路14に送出する。信号処理回路14は、受光器12からの光電変換信号の信号レベルが予め定められた規定レベルを越えたときに欠陥信号を発生する。

請求項（抜粋）：

レンズのレンズ面上に光軸と平行な検査光を照射し、レンズの焦点に向かう正常な検査光を除き、レンズを散乱透過した検査光を光電検出し、この検出信号の信号レベルが予め定められた規定レベルを越えたときに欠陥が存在すると判断することを特徴とするレンズの検査方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• レンズ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-156074   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 細線の微細欠陥検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-186744   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開昭57-190246
  
• 特開昭57-190246