特許
J-GLOBAL ID:200903076798447035

液晶表示素子またはそのカラーフィルタの欠陥検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-121854
公開番号(公開出願番号):特開平9-304226
出願日: 1996年05月16日
公開日(公表日): 1997年11月28日
要約:
【要約】【課題】液晶表示素子の表示欠陥の有無を、能率良く、しかも高い信頼度で判定する。【解決手段】液晶表示素子の各列の画素の出射光を順次検出し、その検出信号と、この検出信号を所定周期遅らせた遅延信号とのうちの一方の信号から他方の信号を減算処理して得た差信号の波形から表示欠陥の有無を判定する。
請求項(抜粋):
液晶表示素子の表示欠陥を検査する方法であって、前記液晶表示素子の各列の画素の出射光を順次検出し、その検出信号と、この検出信号を所定周期遅らせた遅延信号とのうちの一方の信号から他方の信号を減算処理して得た差信号の波形から表示欠陥の有無を判定することを特徴とする液晶表示素子の欠陥検査方法。
IPC (5件):
G01M 11/00 ,  G02B 5/20 101 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 505 ,  G09F 9/00 352
FI (5件):
G01M 11/00 T ,  G02B 5/20 101 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 505 ,  G09F 9/00 352
引用特許:
審査官引用 (4件)
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