特許
J-GLOBAL ID：200903077046504109
高空間分解能歪み分布測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-128099
公開番号（公開出願番号）：特開2002-323305
出願日： 2001年04月25日
公開日（公表日）： 2002年11月08日
要約：
【要約】【課題】 用いる光パルスの幅は変えずに、測定用光ファイバを構造物へ固着する方法を工夫することにより、実効的に歪み測定の空間分解能を向上させる方法を提供することにある。【解決手段】 パルス光のパルス幅で定められる空間分解能Δz以下となる長さLkの部分を測定対象構造物に固着するとともに、引き続きこの空間分解能ΔzとLKとの差分以上の長さLK’の部分に一定の張力を加えて、これを前記長さLKの部分の延長上以外の位置に配置しているため、両者の中で生じる散乱光の周波数領域の違いを利用してΔzよりも小さな空間分解能LKで歪み分布を測定できる。
請求項（抜粋）：
一定の光周波数を持つ連続光から取り出したパルス光を、測定対象である構造物に対して固着された歪み測定用光ファイバに入射し、該歪み測定用光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光の周波数の時間変化を解析することにより、前記構造物の歪み分布を測定する方法において、前記歪み測定用光ファイバを前記測定対象構造物に対して固着する方法は、前記パルス光のパルス幅で定められる空間分解能以下となる所望の長さの部分を前記測定対象構造物に直線状に固着する第1工程と、前記空間分解能と前記所望の長さとの差分以上の長さの部分に一定の張力を加えてこれを前記直線の延長上以外の位置に配置する第2工程と、これらの第1工程及び第2工程を必要なだけ繰り返し、該歪み測定用光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光の周波数の時間変化を解析する際に、前記一つ又は複数の第1工程で固着した部分から生じた散乱光の持つ周波数領域のみについて解析することを特徴とする高空間分解能歪み分布測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/16
, G01B 11/00
, G02F 1/35 502
G01B 11/16 Z
, G01B 11/00 A
, G02F 1/35 502
2F065AA02
, 2F065AA65
, 2F065BB22
, 2F065CC23
, 2F065DD03
, 2F065DD04
, 2F065FF12
, 2F065FF41
, 2F065FF58
, 2F065LL02
, 2F065QQ28
, 2K002AA04
, 2K002AB12
, 2K002CA15
, 2K002DA10
, 2K002HA24
